算法导论-VLSI芯片测试问题

handerliu

于 2012-03-30 15:41:58 发布

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分类专栏：数据结构与算法文章标签：测试算法 c

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本文链接：https://blog.csdn.net/liu1064782986/article/details/7411720

本文探讨了在VLSI芯片测试问题中，当超过半数芯片为坏时，如何通过成对测试来确定好芯片。证明了在坏芯片多于n/2时无法确定好芯片，并给出了在好芯片多于n/2时，如何通过n/2对测试将问题规模减半的方法。同时，展示了如何利用Θ(n)对测试找出好芯片的递归策略。

摘要生成于 C知道，由 DeepSeek-R1 满血版支持，前往体验 >

问题叙述：

4-6　　VLSI芯片测试

　　　　Diogenes教授有n个被认为是完全相同的VLSI芯片，原则上它们是可以互相测试的。教授的测试装置一次可测二片，当该装置中放有两片芯片时，每一片就对另一片作测试并报告其好坏。一个好的芯片总是能够报告另一片的好坏，但一个坏的芯片的结果是不可靠的。这样，每次测试的四种可能结果如下：

　　　　A芯片报告　　　　　　　　　B芯片报告　　　　　结论

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