算法导论-VLSI芯片测试问题

问题叙述：

4-6　　VLSI芯片测试

　　　　Diogenes教授有n个被认为是完全相同的VLSI芯片，原则上它们是可以互相测试的。教授的测试装置一次可测二片，当该装置中放有两片芯片时，每一片就对另一片作测试并报告其好坏。一个好的芯片总是能够报告另一片的好坏，但一个坏的芯片的结果是不可靠的。这样，每次测试的四种可能结果如下：

 

　　　　A芯片报告　　　　　　　　　B芯片报告　　　　　结论

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　　　　B是好的　　　　　　　　　　A是好的