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RSS订阅原创 讲稿3（缺陷-密度：解决方案）
如果违反下述缺陷（Defects ）与代码行（(K)LOC ）的关系，缺陷密度度量就会出现问题。Defects = a LOC**b, with a>0, b>1. 如果你的程序集里没有这种关系，那么使用缺陷密度度量就是很有问题了。你不能通过预测单个程序的缺陷密度度量来预测整个系统的缺陷密度度量。 查看更多的信息请参考：Horst Zuse: A Framework of
2004-11-04 14:10:00
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原创 讲稿2 (缺陷密度度量)
缺陷密度度量(DD) 是除了代码行(LOC)度量之外在业界应用最广的度量方法之一。缺陷密度度量定义如下：DD = Defects(K)LOC Defects是软件发行以后一段时间（一般6个月）缺陷的数目。这里我们将不讨论实际应用中的度量问题。下面的图表可以说明使用DD度量时的效果。Version 1Version 2#Defects
2004-11-04 13:52:00
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原创 讲稿1（度量是简单的事情吗？）
下面是我们的故事：一所大学有两个系，1系和2系。学校领导要求增加在校女生的数量。下图是当时的情况： 图1：1980，1990学校里系1和系2男生和女生的人数和比例1980年系1有50位男生和50位女生，因此系1有50%的女生。到1990年系1有10位男生和15位女生，女生的比例增长到60%。因此系1履行了领导的决定。1980年系2有25位男生和5位女生，因此大约有17%的女生。到199
2004-11-04 11:37:00
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空空如也
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