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基础练习 BASIC-23 芯片测试

标签: java数据结构算法蓝桥杯
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分类:
问题描述
  有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
  每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
  给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
输入格式
  输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
  第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
输出格式
  按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
     1 3

import java.util.Scanner;

public class Main{
	public static void main(String[] args) {
		Scanner input = new Scanner(System.in);
		int n = input.nextInt();
		
		int [] count = new int[n]; 
		int [][] arr = new int[n][n];
		
		for (int i=0; i<arr.length;i++){
			for (int j=0; j<arr[i].length; j++){
				arr[i][j] = input.nextInt();
				if (arr[i][j] == 1){
					count[j]++;
				}
			}
		}
		
		for (int i=0; i<n; i++){
			if (count[i]>(n/2)){
				System.out.print(i+1+" ");
			}
		}
	}
}



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