第4代白盒测试方法
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wayne_chan
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killercat:
参考:http://www.i170.com/user/killercat/Article_109708
哈哈
killercat:
参考:http://www.i170.com/user/killercat/Article_109708
哈哈
dawnwang:
很好,赞一个!
wayne_chan:
白盒阶段发现的BUG,除了单元测试与集成测试发现问题,还包括代码走读发现的问题。
hongXG:
白盒阶段要发现60%的缺陷,太高了吧?
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