ZYGO 8070-0279-01是一款表面形貌测量设备,具体属于干涉仪类别。该设备在半导体工艺以及其他高精度表面测量领域有着广泛的应用。以下是关于ZYGO 8070-0279-01的详细介绍:
- 应用领域:ZYGO 8070-0279-01主要用于光学元件、半导体、光学薄膜等高精度表面的形貌测量。它能够准确捕捉表面的微小变化,提供高精度的形貌数据,满足用户对光学元件和半导体等高精度表面质量的要求。
- 宽测量范围:该设备适用于多种不同尺寸和形状的光学元件,能够测量从几纳米到几毫米的表面形貌。这使得它在各种应用领域都具有广泛的适用性,包括光学制造、半导体工艺、科研实验等。
- 快速测量速度:ZYGO 8070-0279-01具备快速测量能力,可以在短时间内获取大量表面的形貌数据。用户可以通过简单的操作完成测量任务,并获得清晰的形貌图像和数据分析结果。
- 灵活的数据处理和报告生成:该设备提供了强大的数据处理和报告生成功能,使用户能够轻松地对测量数据进行处理和分析,并生成详细的报告。
- 高精度和高稳定性:ZYGO 8070-0279-01具有高精度的测量能力和高稳定性,能够确保测量结果的准确性和可靠性。
总之,ZYGO 8070-0279-01是一款功能强大、性能稳定的表面形貌测量设备,能够满足各种高精度表面测量的需求。如果您需要进行高精度表面测量,ZYGO 8070-0279-01将是一个不错的选择。
HONEYWELL 05701-A-0361
SIEGER 05701-A-0361
ABB CP676 3ABD00038801
ABB REX521GHHGSH51G
EPRO PR6424/013-030+CON021
HONEYWELL C7035A1023
SST SST-PB3-CLX-RLL
LAM 98008RFRSA10P1
jetter JM-204-480-JC310-S1
METSO D201189
TRICONEX 3721
FOXBORO P0972SE
ABB 1SVR011718R2500
MOTOROLA MVME162-212
GE DS3820PSCB1C1B
ABB O4LE 1KHL015545R0001
EPRO PR6424/013-030+CON021
GE IC200ALG325
SIEGER 05701-A-0361
SAUTER AVM234SF132
PARKER 87-008145-03
BENTLY 3500/33 149986-01
YOKOGAWA NFPW444-50
ABB PM864AK01 3BSE018161R1
TRICONEX 3902AX
GE VME7865RC V7865-23003 350-9300007865-230003 M
WATLOW ANAFAZE CAS 16CLS/CAS
ABB REC650 1MRK008514-CB
ABB REC650 1MRK008514-AA
ABB REC650 1MRK008514-AB
ABB REX521GHHPSH51G
ABB REX521BBHGLB01C
ABB REC670 1MRK002814-AC
ABB REC670 1MRK002814-AB
ABB RED521 1MRK002003-BA
ABB REL551 1MRK002480-AE
ABB REL561 1MRK002496-AC
MITSUBISHI MR-S11-200-Z37