基础练习 芯片测试

  基础练习芯片测试  

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问题描述

　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入格式

　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输出格式

　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例输入

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1

样例输出

1 3

分析：因为超过半数的芯片是好的，所以这些芯片对于其他芯片的测试结果是正确的。

假设该芯片是好芯片，它除了它自身测试自身之外的其他测试结果为好的个数将超过一半。

所以只要根据每一列的所有测试结果，判断其为好芯片的总数>=n/2的时候，这个芯片就是好芯片。

   

当cnt的值大于等于n/2即为好芯片，因为自身是不能去测试自身的。

#include <stdio.h>
int main()
{
    int a[20][20];//n最大为20
    int n;
    scanf("%d",&n);
    int i,j;
    for(i=0;i<n;i++)
        for(j=0;j<n;j++)
        scanf("%d",&a[i][j]);
    for(i=0;i<n;i++)
    {
            int cnt=0;
        for(j=0;j<n;j++)
        {
            if(i!=j)
                cnt+=a[j][i];
        }
            if(cnt>=n/2)
    printf("%d ",i+1);
    }
    return 0;
}