数字 IC 技能拓展（29）浅谈 DFT 与扫描链

正文

一、DFT

        通过插入 DFT 逻辑，比如 Scan Chain（寄存器）、MBist（片上存储器）、Boundary Scan（IO）等，然后利用 ATPG、MBist、Boundary Scan 工具产生测试向量，仿真验证测试向量。

        DFT 的工作包括：在项目初期规划 DFT 架构；在 RTL 级别设计测试电路；在验证阶段验证测试电路；在 Synthesis 阶段实现测试逻辑的插入；在测试阶段提供测试向量。

        功能性测试是为了验证设计出的是想要的；

        DFT 测试是为了检测生产出的就是设计的；（生产的缺陷）

二、扫描链

        扫描链的插入，指的是将普通寄存器（Flip-Flop）替换成为扫描寄存器