Tessent shell edt_update / edt clock 时序以及组合

最新推荐文章于 2023-09-18 01:00:03 发布
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分类专栏： DFT
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冬天玩游戏冻手
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专栏目录
EDT Control and Channel Pins
weixin_44954910的博客
05-23 496
EDT逻辑包括control和channel pins。control pins例如edt_clock、和edt_bypass，控制EDT的功能。channels pins例如edt_channels_in和edt_channels_out是扫描通道。
Mentor-dft 学习笔记 day40-Saving Timing Patterns（1）
qq_42327670的博客
12-12 819
Saving Timing Patterns（1）
tessent shell reference/tessent工具命令参考手册
02-24
tessent工具命令参考手册，对各类命令讲得很详细； 适合IC行业的朋友们！
EDT技术 ug - 第四章节Creation of the EDT Logic (持续更新)
ciscomonkey的博客
05-25 3357
文章目录Compression Analysisanalyze_compressionPreparetion For EDT Logic Creation 本篇文章是对EDT logic的creation的介绍，本文并非完全是对tessent Kompression 文档的完全翻译，而是融入了自己的理解。 不得随意转载 CSDN博主：ciscomonkey Compression Analysis 你可以通过优化更改 channel ratio（scan channels的数目以及scan chain的长短
DFT学习笔记-Mbist电路连接
最新发布
tfrofc的博客
09-18 848
上节学习了插mbist的时的脚本逻辑，这节进一步学习脚本在插mbist的时候都对电路做了哪些改动，包括定义了哪些端口，添加了哪些模块，都是什么功能。以下描述都是基于现在参考的一个设计环境，不方便贴出，有些步骤不是普适的。在上图mbist_insertion_flow中，红框内的部分是插mbist的主要工作，根据之前的学习，三部分的工作内容如下：dc.mbist.pre: 定义dft中用到的一些端口；
tessent edt dft手册 eetop.cn_edt_gd.pdf
01-24
tessent edt dft手册 eetop.cn_edt_gd.pdf
edt_pdv_test
03-28
EDT PDV测试代码 用于测试设置EDt PDV驱动程序API和使函数适应的基础的代码。 此代码还使用sierra-奥林匹克运动会，wind_protocol和fip_protocols来为Sierra Olympic摄像机构建控制包。 此处的链接是指向类的Doxygen链接，以构建所有控制包。 Ubuntu 18.04 sudo apt-get update 检查这些以确保使用了正确的头版本，请使用下面的链接来验证内核头和Linux源之间的壁橱匹配。 sudo apt-get install -y --fix-missing linux-headers-$(uname -r) sudo apt-get install -y --fix-missing linux-source-5.3.0 安装所需的软件包 sudo apt-get install -y --fix-missin
EDT技术 ug - 第一章节 Getting Start
ciscomonkey的博客
05-16 8128
文章目录 本系列介绍的是Tessent的EDT（Embedded Deterministic Testing）技术。 参考为EDT tessent的 TestCompress 文档。 本系列是对ug的个人理解和知识要点笔记，并非完全翻译。 EDT作为一种测试技术，在Tessent TestKompress 工具中使用，注意EDT不是工具，而是一种测试手段。 EDT形成的internal scan chain 对于tester来讲，就好像看到的是external chain一样。 如下图所示，对于tester
第一章：Getting Started
weixin_44954910的博客
03-22 889
scan channels可以被看作虚拟scan chains因为，从tester的角度来说，它们的操作与传统的scan chains相同，因此能够应用传统scan patterns的任意tester，可以应用压缩patterns。默认EDT逻辑包含组合逻辑和flip-flops。定义参数，例如scan channels和lockup cells插入的数量，工具会基于指定的参数、内部扫描链的数量、最长扫描连的长度以及每个链中第一个和最后一个扫描单元的时钟，自动确定EDT hardware的内部结构。
EDT技术 ug - 第二章节 The Compressed Pattern Flows
ciscomonkey的博客
05-25 1259
文章目录引言Compressed Pattern Flows 介绍 引言 本篇文章介绍的是tessent EDT 的第二章节，本文并非对ug的原版翻译，而是加上了自己的理解。 请勿随意转载 CSDN 博主： ciscomonkey Compressed Pattern Flows 介绍 对于uncompressed ATPG 来说，是没有差异的，一般都是采用DC综合，然后tessent完成scan insertion， 然后tessent打ATPG。 但是对于compressed Pattern Flow来
DFT EDT 压缩解压缩模块详解
11-06
DFT EDT手册 压缩解压缩原理及流程的详细讲解 EDT的产生流程，EDT在design中的插入流程
Tessent Shell Reference Manual
03-20
Tessent Shell Reference Manual
tessent scan and ATPG User's Mannual (atpg_gd March 2019 )
04-11
2019 March 最新版,scan atpg文档。描述了scan atpg的操作flow，工具原理
Tessent Shell Reference Manual.pdf 最新版本
04-24
SIEMENS EDA Tessent Shell Reference Manual Software Version 2022.4 Document Revision 29
Tessent® BoundaryScan User’s Manual For Use with Tessent Shell
01-03
Tessent® BoundaryScan User’s Manual For Use with Tessent Shell Software Version 2017.4 December 2017
tshell_mbist_user.pdf
01-03
Tessent MemoryBIST User's Manual For Use with Tessent® Shell Software Version 2017.4 December 2017
Tessent EDT 之External flow与Internal Flow
myx_mike的博客
08-09 456
ATPG DFT Tessent EDT
Mentor-dft 学习笔记 day13-Scan Insertion for Wrapped Core案例
qq_42327670的博客
10-27 1602
Mentor-dft 学习笔记 day13-Scan Insertion for Wrapped Core案例
Mentor-dft 学习笔记 day9-Internal Scan and Test Circuitry Insertion
qq_42327670的博客
10-18 1504
使用Tessent Scan，可以分析设计，根据设计和用户约束分配新的扫描链，并在对设计执行实际扫描插入之前分析扫描链的分布和平衡。如果预先存在的扫描链未连接到EDT IP，则预先存在的搜索链将以add_scan_mode命令指定的所有扫描模式存在，并且即使在EDT模式下也将保持为未压缩的扫描链。扫描段是存在于较低级别/子模块内的扫描链，扫描段的未连接扫描输入和扫描输出位于较低级别或子模块的边界。在analyze_scan_chains过程中，预先存在的扫描段与其他扫描元素连接，以形成新的扫描链。
tessent edt atpg
08-15
Tessent EDT ATPG （自动测试程序生成）是一种专业的芯片测试解决方案。Tessent EDT ATPG 是迅捷先进公司推出的一套创新的测试生成工具，旨在帮助半导体芯片制造商更高效地进行芯片测试。Tessent EDT ATPG 可以有效地避免由于设计错误而导致的芯片故障，提高芯片测试的质量和效率。 Tessent EDT ATPG 的实施过程主要分为三个主要步骤。首先，需要创建一个测试模型，该模型描述了芯片的功能、输入和输出。然后，通过设置测试要求和约束条件，生成测试向量，用于模拟和测试芯片。最后，使用生成的测试向量，通过电子工具和测试平台对芯片进行测试和验证。这样，制造商可以及时发现和修复芯片中的错误，确保芯片的质量和可靠性。 Tessent EDT ATPG 的特点主要体现在以下几个方面：首先，它提供了一种高度灵活且易于使用的测试生成方法。不同类型的芯片可以使用不同的测试方法，以满足不同的测试需求。其次，它具有高效的测试向量生成能力，可以快速生成高覆盖率的测试向量。再次，它提供了全面的故障模型，可以针对不同类型的故障进行测试。最后，它支持多种测试平台和工具的集成，方便制造商进行芯片测试和验证。 总之，Tessent EDT ATPG 是一种专业的芯片测试解决方案，能够帮助半导体芯片制造商提高芯片测试的质量和效率。通过使用 Tessent EDT ATPG 可以有效地降低芯片故障的风险，并且加快芯片的上市时间，促进半导体产业的发展。

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