如何检测半导体射频器件是否损坏——TFN FMT800矢量网络分析仪

本文介绍了如何利用TFN FMT800系列矢量网络分析仪检测半导体射频器件的损坏情况。这款分析仪具备时域分析、数据变换、滤波器分析等功能,适用于无线通信、汽车电子等多个行业的测试需求,能有效提升测试效率并降低故障成本。
摘要由CSDN通过智能技术生成

        在半导体设计、制造、封装中的各个环节中,都要进行反复多次的检测、测试以确保产品质量,从而研发出符合系统要求的器件。缺陷相关的故障成本影响高昂,从IC级别的数十美元,到模块级别的数百美元,乃至应用端级别的数千美元。因此,检测设备从设计验证到整个半导体制造过程都具有无法替代的重要地位。

如何检测半导体射频器件是否损坏?

        TFN FMT800 系列矢量网络分析仪,吸取了前几代网络分析仪应用客户的大量反馈,结合了最新国际仪器发展的技术和态势,是TFN仪器最新推出的第四代矢量网络分析仪。TFN新研发推出的多 端口测试仪,搭配矢量网络分析仪使用,可有效提高生产制造企业的测试效率,节约时间成本。

        频率范围从 100kHz 覆盖 3GHz、3.5GHz、4.5GHz、6GHz、8.5GHz 频段,为无线通信、广播电视、汽车电子、半导体和医疗器件等行业射频器件、组件的研发和生产的应用提供了高效、灵活的测试手段,进入了民品、工业、科研教育和军工等领域。

 

RF 器件的智能生产测试

强大的分析功能 

● 时域分析(选件)

时域传输、反射特性分析;距离上的故障定位。

● 数据变换

涉及多种形式的阻抗、导纳变换。

● 滤波器分析

自动分析出:插损、3dB带

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