芯片测试 题解

问题描述
　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
输入格式
　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。
输出格式
　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3

思路分析：
读完题大致知道题的一些条件；

1：已知好芯片比坏芯片多，也就是好芯片数>坏芯片数，好芯片最少也是n/2+1；
2：如果一个芯片获得的测试评价中，好多于坏，那么这个芯片是好的，反之亦然
3：好芯片测试芯片是好就好，是坏就坏；
4：坏芯片测试其他碎片是随机结果；可能正确也可能说反；

（0代表坏，1代表好，那么零的个数不大于n/2则可以判断出这个芯片是好的）

我的思路就是求出测试数据0的个数，放入新数组判断是否小于等于n/2；

程序如下：

public static void main(String[] args) {
   
		
		Scanner sr=new Scanner(System.in