试题基础练习芯片测试 C语言

SalviaLuyitong

已于 2024-01-29 22:33:37 修改

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文章标签： c语言算法

于 2024-01-29 22:00:30 首次发布

本文链接：https://blog.csdn.net/Xx905200335/article/details/135921607

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文章讲述了如何利用给定的测试结果，通过编程解决芯片好坏判断问题，利用已知好芯片多于坏芯片的条件，通过数组遍历和比较，确定好芯片的编号。

摘要由CSDN通过智能技术生成

问题描述

　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入格式

　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输出格式

　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例输入

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1

样例输出

1 3

本题算法思路：

本题借鉴了以下视频

【试题基础练习芯片测试蓝桥杯备战】 https://www.bilibili.com/video/BV1Sm4y197DV/?share_source=copy_web&vd_source=c3c0bf8e05f79f1ed27a53f133872bc3

总结以下，得到启发，用数组存放结果再遍历。抓住了题目已知条件“好芯片比坏芯片多”，而且注意的是，它为一列一列进行遍历,所以为a[ j ][ i ] == 1。因为本题样例中遍历行和列结果一样，所以需要验证尝试，也可以把a [ i ] [ j ] 带进去看看结果有什么不同。

#include<stdio.h>
//已知好芯片比坏芯片 多 
int main(){
	int i,j;
	int a[20][20];
	int temp = 0;//用于统计好的芯片 
	int cl [20];//用于记录好的芯片
	int n;
	scanf("%d",&n);
	for(i = 0 ;i < n;i++){
		for(j = 0;j < n;j++){
			scanf("%d",&a[i][j]);
		}
	}
	
	for(i = 0 ;i < n;i++){
		int temp = 0;
		for(j = 0;j < n;j++){
			if(a[j][i] == 1)
			temp++;
		}
		//遍历完一行
		cl[i] = temp; 
	}
	for(i = 0 ; i < n;i++){
		if(cl[i] > n - cl[i])//好芯片比坏芯片 多 
			printf("%d ",i + 1);
	}
	
	return 0;
	
}