低温环境试验高低温冲击试验操作流程

高低温冲击试验操作流程
测试项目：低温、高温测试
测试标准：GB/T2423.1-2008、GB/T2423.2-2008
测试样品：电工电子产品
（低温运行、低温贮存）试验的目的是检验试件能否在长期的低温环境中储藏、操纵控制，是确定军民用设备在低温条件下储存和工作的适应性及耐久性。低温下材料物理化学性能。标准中对于试验前处理、试验初始检测、样品安装、中间检测、试验后处理、升温速度、温度柜负载条件、被测物与温度柜体积比等均有规范要求。主要用于科研研究、医辽用品的保存、生物制品、远洋制品、电子元件、化工材料等特殊材料的低温实验及储存。
低温条件下试件的失效模式：产品所使用零件、材料在低温时可能发生龟裂、脆化、可动部卡死、特性改变等现象。
低温环境对设备的主要影响有：
a.使材料发硬变脆；
b.润滑剂粘度增加，流动能力降低，润滑作用减小；
c.电子元器件性能发生变化；
d.水冷凝结冰；
e.密封件失效；
f.材料收缩造成机械结构变化。

低温测试目的：用来确定元件、设备或其他产品在低温环境下使用、运输或贮存的能力。
低温测试的温度有：
-65℃
-55℃
-50℃
-40℃
-33℃
-25℃
-20℃
-10℃
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