专有名词或英文缩写释义

最新推荐文章于 2022-12-09 15:46:16 发布
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分类专栏： SDN 文章标签： SDN
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本文介绍了6LoWPAN、wmediumd、SSID等无线通信相关概念，并深入讲解了SDN（Software Defined Network）的基本原理。此外，还探讨了Hostapd在软AP中的作用，以及Popen在Linux进程管理中的功能。
摘要由CSDN通过智能技术生成

专有名词或英文缩写释义

  1. 6LoWPAN：是一种基于IPv6的低速无线个域网标准，即IPv6 over IEEE 802.15.4。解决了将IP协议引入无线通信网络不现实的问题。具有低功率运行的潜力。

  2. wmediumd：Wireless medium simulation tool（无线媒体模拟工具）

  3. SSID：Service Set Identifier服务集标识符，用来区分不同的网络，SSID通常由AP或无线路由器广播出来。简而言之，SSID就是一个局域网的名称，只有设置为名称相同SSID的值的电脑才能互相通信。

  4. 目前常见的无线通信技术：

    1. RFID

    2. GPRS/CDMA

    3. Bluetooth

    4. WiFi（无线宽带）

    5. IrDA

    6. UWB（超宽带）

    7. Zig-Bee

    8. NFC（近场通信）

    http://news.rfidworld.com.cn/2018_04/2d8168e8f5b3f03f.html
    https://zhuanlan.zhihu.com/p/1

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stdf文件内 专有名词解释
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### 回答1： STDf文件是被广泛使用于半导体测试行业的一种数据格式。是Semiconductor Test Data Format（半导体测试数据格式）的缩写。STDf格式文件能够存储一段时间的测试数据，包括每个芯片的测试结果、测试程序、测试条件、测试设备、测试时间等信息。 专有名词解释如下： 1. Test program（测试程序）：是在芯片测试过程中使用的软件程序，用于进行测试操作的自动化 2. Test Head（测试头）：一种具有测试卡和传感器的设备，用于接触芯片并读取测试结果。 3. Tester（测试仪）：主要用于进行半导体器件或电路测试和分析的设备 4. Device Under Test（芯片）：被测量器件或电路 5. Pin（引脚）：在芯片上用于连接电路的金属引脚 6. Site（测试站）：测试头的一个位置，它可以用于测试一个芯片或一组芯片。 7. Scan Chain（扫描链）：在芯片中引导测试信号流动的序列。 8. Timing Information（时序信息）：在每次测试期间记录的时间信息，用于对测试结果进行时间分析。 9. Wafer（晶圆）：是芯片生产过程中用于切割成芯片的大片硅晶体。 10. Test Condition（测试条件）：定义了在测试过程中用于设置测试参数和测试设备的规范和条件。 ### 回答2： STD（Stand Test Data Format）文件是半导体测试数据的标准格式，用于记录芯片的测试数据信息。它是一种二进制格式，通常以*.std文件扩展名表示，可被各种半导体测试设备和测试工具支持。 STD文件中的专有名词主要包括以下几个：Test Head，Site，Pin，Vector，Part，Wafer。其中，Test Head是测试头，位于测试工站上，用于发出测试信号和接收反馈信号，控制芯片的测试过程；Site是指芯片测试站点的序号，一个芯片会有多个测试站点；Pin是指芯片的引脚，每个站点上有一个或多个引脚；Vector是测试向量，即测试程序中芯片测试所需的信号序列，包含多个测试点的信号信息；Part是测试批次的名称，用于标识同一个批次的芯片；Wafer是指晶圆，即多个芯片在同一片晶圆上制造而成，测试时需要将测试向量应用到各芯片上。 除此之外，STD文件还包含如时间戳、测试程序版本、测试结果等信息，方便对芯片的测试数据进行分析和管理。STD文件的统一格式不仅可以保证测试结果的一致性和可靠性，还方便了不同测试设备和测试工具的数据转换和共享。 ### 回答3： STDF (Standard Test Data Format)文件是集成电路测试数据的标准格式。它是由Semiconductor Test Data Exchange Format Working Group（STDF WG）开发的一种二进制文件格式。这一组织的成员包括各大半导体公司和测试设备制造商。 STDF文件分为头部记录和数据记录两部分。头部记录包含了关于测试数据的基本信息，如生产、测试日期，整个文件的版本等。数据记录是针对每个被测试元件生成的测试数据，包括被测试元件的型号、序列号和被测试功能等。 STDF文件中包含了一些专有名词，需要解释一下。其中，WAFER（晶圆）是指在半导体制造过程中，被加工的圆片状硅晶体，用于制造芯片。LOT（批次）是指在制造晶圆时，将同种型号的晶圆放在一起进行生产和测试，称为批次。首件（FIRST）指的是批量生产之前，取出一片晶圆，用于测试制造工艺是否正确。 另外，STDF文件中还有元件标志（PARTID）和测试标志（TEST_NUM、TEST_FLG）等字段，用于定位被测试元件和识别产生的测试数据。 总而言之，STDF文件是记录集成电路测试数据的标准格式，通过标准化数据格式，方便各大公司之间的数据交流，促进了半导体产业的发展。
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