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1.概述
在之前我们聊到ED芯片在标定领域的场景覆盖,讲解了ETAS之前设计的ETK原理:通过并行数据和地址总线或通过串行MCU调试接口提供直接访问ECU的测量变量和控制参数;
由于每家芯片厂debug和trace设计的不同,ETK作为硬件需要适配;
通常来讲ETAS或者Vector会根据芯片厂对应芯片出货量来决定是否为其开发高速标定测量套件,所以我们发现ETK支持的芯片基本都是国际大厂,如下图:
不过这也与国内对ED产品不重视有关,毕竟现在国产替代讲究小快灵,PIN2PIN移植量产产品,就不太需要搞贵而麻烦的ED。
今天我们就针对Aurix系列来看看ETK和MCU调试如何协同。
2.ETK描述
2.1 产品概述
在讲细节之前,我们先熟悉ETK(Emulator Test Probe)三种不同产品:
ETK\XETK(兼容XCP)为30m的100Mbit/s以太网电缆,FETK为1000Mbit/s以太网电缆。
接下来再看两种接口类型定义:
1.并行ECU接口
这种接口类型,在做标定时是将ECU的ROM/Flash的标定及部分功能函数映射到ETK中的CalRAM,做高速测量时使用ETK内部mailbox作为数据交互中转站,通过ECU程序的触发信号来实现数据同步,这就需要MCU内部提供数据\地址总线为ETK。
2.串行ECU接口
当MCU不能提供数据和地址总线时,通常一个配有扩展内存(放置CalRAM和Mailbox)的同类型MCU(ED产品)用于ECU开发。ETK、FETK或XETK接口通过调试接口(如JTAG、NEXUS或AURORA)实现长距离访问MCU
那么我们今天就来讲一下通过调试接口访问的串行ETK。
2.2 FETK-T1.1产品描述
根据ETAS官网的相关资料,FETK-T1.1是专为英飞凌AURIX设计的仿真硬件设备,该设备通过DAP接口和Aurora Trace接口与MCU相连接,具体参数如下:
当然,这个硬件产品还有不同变体,T1.1A为TC2xx专用,T1.1B为TC3xx专用,这个暂时不提。
同时需要和ES89x连接,才能实现上位机和ECU的交互,示意图如下:
在该产品中,使用MCU的TRACE接口如Aurora可以实现大数据高速率吞吐的测量工作,使用debug接口可以实现标定和快速原型。
2.3 FETK-T1.1内部构造
如上图所示,FETK对外暴露了3个与ECU连接的物理接口,1个与ES89x连接的物理接口,具体作用如下:
接插件名 | 接口类型 | 作用 |
Debug(DAP) | ECU接口 | 实现标定和Flash Programming(需要ProF控制) |
Trace(Aurora) | ECU接口 | 实现DAQ和STIM功能 |
Power | ECU接口 | 给MCU中 Emulation RAM供电、标定唤醒等 |
Eth IF | ES89x接口 | 千兆以太网接口实现上下位机零延迟交互 |
3.小结
这里我们简单将FETK-T1.1的功能feature总结如下:
3.1 标定
- FETK-T1.1使用DAP接口完成标定访问,可选2pin DAP(50\100 MHZ),3pin DAP(100\160 MHZ)
- 利用AURIX overlay机制实现WP\RP管理
- FETK-T1.1给MCU ERAM供电
- FETK-T1.1支持标定唤醒MCU功能
- 使用DAP完成Flash刷写,无须软件支持
3.2 测量
- 利用Aurora接口与ECU连接,FETK-T1.1与ES89x千兆以外网接口连接实现高速测量:延迟15us
- 基于ETAS Hook-based和hook-less测量模式
下一节我们将继续细节讲述标定和测量具体实现和接插件定义。