JTAG 标准 IEEE STD 1149.1-2013 (高清,非扫描版,带 TOC )

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【下载地址】JTAG标准IEEESTD1149.1-2013高清非扫描版带TOC JTAG 标准 IEEE STD 1149.1-2013 (高清,非扫描版,带 TOC )欢迎使用本仓库资源,您将获得的是 **IEEE STD 1149.1-2013** 的权威标准文档 【下载地址】JTAG标准IEEESTD1149.1-2013高清非扫描版带TOC 项目地址: https://gitcode.com/Open-source-documentation-tutorial/c57d7

欢迎使用本仓库资源,您将获得的是 IEEE STD 1149.1-2013 的权威标准文档。本文件聚焦于“测试访问端口和边界扫描架构”,是电子工程领域不可或缺的技术资料。

标准简介

JTAG(Joint Test Action Group,联合测试行动小组) 是一种国际标准测试协议,主要用于集成电路的内部测试。此标准由IEEE发布,编号为IEEE 1149.1,首次发布于1990年,并在2013年进行了重要更新,即我们所提供的版本——IEEE STD 1149.1-2013。这一版次的标准对边界扫描技术进行了详尽的规范,对于电路设计、测试工程师以及相关硬件开发人员来说,是极其重要的参考文献。

文件特点

  • 高清格式:保证了文本的清晰可读,方便用户在线阅读或打印,无需担心因分辨率不足而影响阅读体验。
  • 非扫描版:与扫描版文档不同,本资源是以原始文档为基础制作,确保了内容的精确性和格式的一致性。
  • 带有目录(TOC):用户可以轻松导航至文档中的具体章节,提高了查找信息的效率,非常适合快速学习和查阅。

使用范围

  • 电子工程师在进行电路板设计时,用于实现高效的芯片级和系统级测试。
  • 测试工程师利用JTAG接口执行边界扫描测试,检测PCB上的连接错误。
  • 教育机构和学生在学习数字电路和嵌入式系统课程时作为参考资料。
  • 硬件开发者优化其产品测试流程,确保产品质量。

注意事项

  • 请尊重知识产权,合理使用此文档进行学习和研究目的。
  • 在应用本标准进行设计和测试时,建议结合最新的行业实践和技术进展。

获取此资源后,希望能助力您的项目开发和学习之旅,深化对JTAG技术的理解和应用。如有任何使用上的疑问,欢迎参与社区讨论,共同交流进步。

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