MT666数字程序测试

​​​​​​​

 

测试项：

1、OS

2、ICC

3、GT电压

4、PATTERN

5、GT电压

6、OS

DATA/GATE使用数字通道 T1/T2

问题1：os测试异常

在测试OS时，DATA/GATE=PEB_ALL，使用PEB_ALL测试两个OS

需要使用fisetting/FVSETTING以及TOTAL_AVG/还有TRIG

    peb.ppmu.FISetting("OS_PEB",-200E-6,peb.ppmu.I_RNG_2MA,2,-2,2);
    peb.ppmu.MVSetting("OS_PEB",1,peb.ppmu.TOTAL_AVG);
    peb.ppmu.Trig();
    util.GetMeasValue("OS_PEB",OS);
    util.TestLog("OS_PEB",OS);
 

在量测GATE电压时，针对单独引脚不需要setting/AVG/trig

    peb.ppmu.FI("GT",0,peb.ppmu.I_RNG_20UA,4,-2);
    util.dlyms(2);
    peb.ppmu.MV("GT",1);
    util.GetMeasValue("GT",A);
    util.TestLog("V_GATE1",A);
 

问题2：GT脚在跑pattern期间，电压不恒定为高或低

故而在写pattern时，不使用GT脚，仅仅读写PIN1-DATA脚；

问题3：GT脚最初测试电压不对

        需先测静态电流，及给VDD一个2V的电压；

        DATA需外接500R到3V，USB5V需外接1K到3V，条件需给到位；

问题4：回码无低电平

        程序中compare时间太短

        设置边沿比较时间

    peb.SetTimingSetPinEdge("0","PEB_PIN",0,500,200,450,peb.DRV_NF,peb.CMP_EDGE);

        周期为500ns，如果compare时间设置成350-450ns，则测试异常，设置200-450ns，测试ok

问题5：测试wait time时间，

        21us±20%，使用38个500ns加上下两个XX去匹配wait time时间

问题6：读回码不稳定

        如高电平是L(2us)H(8us)，及L-4个周期 ，H-16个周期

        针对高低电平，单独进行读取；如L-4个周期，先match100次L，如果match到则 RPT 2次L

        保留一次的余量；H一样&#x