VLSI test 复习所得

最新推荐文章于 2024-08-08 17:27:06 发布
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1 Fault Models

(1)Stuck-At Faults      一个节点固定一个数值

(2) Transistor Faults    进入管级（NMOS PMOS），需要一个序列

(3)Open and Short Faults   指连线的错误，线与线或等

(4) Delay Faulty and Crosstalk   延迟错误，也需要一个序列来detect

(5)Pattern Sensitivity and Coupling Faults  尤其指RAMS中一个点影响周围的或被周围的存储单元影响的情况

(6)Anolog Fault Models 指模拟电路的错误

iagp1991
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国科大学习资料–VLSI测试与可测试设计–2020期末考试试题 国科大学习资料–VLSI测试与可测试设计–2020期末考试试题 国科大学习资料–VLSI测试与可测试设计–2020期末考试试题 一、概念题 1简述可测试性测度与两个主要的测度指标的含义； 2以March C-算法为例，说明March算法的构成，以及March C-算法的故障覆盖率； 3“效果-原因”诊断法和“原因效果诊断法”的不同； 4列举四条扫描设计时出现的问 题及解决办法； 5最少写出1149.1与1500的五点不同； = = = = =
VLSI测试技术详解.pdf
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VLSI电路的测试技术如今面临着许多激动人心和复杂的挑战。在大型系统嵌入单个片上系统（SOC）并制造的时代 不断缩小技术，确保整个系统的正确行为非常重要。今天的电子设计和测试工程师必须处理这些复杂的问题异构系统（数字，混合信号，存储器），但很少有可能以详细和深入的方式研究整个领域。本书提供了极其广泛的学科知识，详细介绍了基础知识，以及最新和最先进的知识概念。它是故障模拟，ATPG，内存测试，DFT和BIST基础知识的教科书。但是，它也是一个完整的可测试性指南，适用于想要学习DFT软错误保护，用于高速测试的逻辑内置自测（BIST），DRAM BIST，测试压缩，MEMS测试的最新进展的工程师，FPGA测试，RF测试等
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VLSI测试原则和架构是指在VLSI（Very-Large-Scale Integration，超大规模集成）芯片设计和制造过程中的测试原则和测试架构。VLSI芯片通常拥有大量的晶体管和电路组件，因此测试在确保芯片质量和功能完整性方面至关重要。 VLSI测试的原则之一是测试尽可能多的电路功能和性能。为了实现这一目标，测试人员需要在设计阶段就考虑测试需求，以确保设计能够支持全面的测试。在实际测试中，常用的方法包括功能测试、电性能测试和可靠性测试。功能测试用于验证芯片的正常操作和设计功能是否符合规格要求；电性能测试用于评估芯片的电气特性和响应速度；可靠性测试用于评估芯片在不同环境条件下的工作状态。 VLSI测试的另一个原则是测试成本效益。由于VLSI芯片的复杂性和规模较大，测试成本可能会非常高昂。为了在有限的成本预算内进行测试，测试人员需要采用策略性的方法，如覆盖率驱动的测试和优先级测试。覆盖率驱动的测试方法基于覆盖率指标，通过选择最具代表性的测试用例，以尽量覆盖芯片中的功能和逻辑。优先级测试方法则根据重要性和风险等因素，对测试用例进行优先级排序，以确保先测试最关键的功能和性能。 VLSI测试架构是指测试系统的组织和结构。为了高效地进行VLSI测试，测试架构需要满足高速、可扩展性和灵活性的要求。一种常见的测试架构是基于扫描链的测试方法。这种方法通过向芯片中插入扫描链，将内部寄存器和逻辑电路连接起来，使得测试信号可以在芯片内部传递。这种架构可以在短时间内对芯片的所有内部逻辑进行测试，提高测试效率。 综上所述，VLSI测试原则和架构的目标是确保VLSI芯片的质量和可靠性。通过全面测试功能和性能，同时根据成本效益和测试优先级进行策略性的测试，以及采用高速、可扩展和灵活的测试架构，可以有效地提高VLSI芯片的测试效率和质量。
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