bandaostart

一. 问题的产生   Hard fault (硬错误,也有译为硬件错误的)是在STM32上编写程序中所产生的错误，造成Hard Fault错误的可能原因较多，排除硬件问题，如何在代码量较大的情况下，快速定位造成的hardfault的问题代码，就成为比较关键的问题。   本文将基于STM32处理器(stm32f091)，keil-MDK开发环境，总结hardfault的调试定位方法。在其他Co...

有源测试(Active)TRP(Total Radiated Power)：总发射功率，通过对整个辐射球面的发射功率进行积分并取平均得到，它反映设备整机的发射功率情况，跟设备在传导情况下的发射功率和天线辐射性能有关(3D)NHPRP(Near Horizon Partial Radiated Power)：近水平面发射功率，反映在设备H面附近天线的发射功率情况的参数(2D TPR)TIS(Total Isotropic Sensitivity)：总全向接收灵敏度，反映在整个辐射球面设备接收灵敏度指.

    前言：这个所谓的芯片内执行（XIP）对于我这种一根筋的人是很难理解的，一直总觉得CPU是只能在RAM中运行程序，为毛能够在Nor Flash中执行程序呢，这里面就有个概念容易混淆，也可能是翻译理解的问题。    所谓片内执行不是说程序在存储器内执行，CPU的基本...

摘要：JEDEC标准(JESD216)Serial Flash Discoverable Parameter (SFDP)[1]是在串行Flash中建立一个可供查询的描述串行Flash功能的参数表。文章主要介绍了这个串行Flash功能参数表的结构、功能和作用，并给出其在系统设计中的具体应用。关键词：JEDEC JESD216；SFDP；串行Flash；SPI