【高录用率！连续多届见刊后1-2个月检索！】 第四届检测技术与自动化工程国际学术会议(TTAE 2024)

第四届检测技术与自动化工程国际学术会议 (TTAE 2024)将拟定于2024年9月27-29日中国厦门召开。

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 第四届检测技术与自动化工程国际学术会议(TTAE 2024)

2024 4th International Conference on Testing Technology and Automation Engineering

重要信息

会议官网：www.ttae.org【点击参会/投稿/了解会议详情】

时间：2024年9月27-29日

会场地点：厦门

截稿时间：以官网信息为准

收录检索：EI Compendex，Scopus

会议单位

主讲嘉宾

*更多嘉宾个人信息可在官网查看.....

征稿主题

其他相关主题投稿可到【会议官网】了解

论文出版

本会议所有的投稿都必须经过2-3位组委会专家审稿，经过严格的审稿之后，最终所录用的论文将被SPIE - The International Society for Optical Engineering (ISSN: 0277-786X))递交出版，出版后提交 EI Compendex, Scopus检索。

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投稿须知（具体可到官网了解）

◆论文不得少于5页，文章需保持原创，且未在其他平台或渠道正式发表。

◆会议论文模板可在【会议官网】了解。

◆会议仅接受全英稿件。且论文应具有学术或实用价值，未在国内外学术期刊或会议发表过。发表论文的作者需提交全文进行同行评审，只做报告不发表论文的作者只需提交摘要。

◆由文章重复率引起的被拒搞将由作者自行承担责任。涉嫌抄袭的论文将不被出版，且公布在会议主页。

◆论文需按照会议官网的模板排版，不得少于5页。

◆每篇投稿的文章，录用后可邮寄一本论文集；

拟定议程

参会方式

作者参会：一篇录用文章允许一名作者参会

1、口头演讲：申请口头报告，时间为15分钟；

2、海报展示：申请海报展示，A1尺寸，彩色打印；

3、听众参会：不投稿仅参会，也可申请演讲及展示。