1. 降额设计的理论基础
电子元器件的基本失效率取决于工作应力(包括工作电压、反向电压、电流、功率、温度、振动、冲击、频率、速度、碰撞等)。极少数低应力失效的元器件除外,大部分的电子元器件均表现为工作应力越高,失效率越高的特性。
常见术语:
降额(derating):元器件使用中承受的应力低于其额定值,以达到延缓其参数退化,提高使用可靠性的目的。通常用应力比和环境温度来表示。
额定值(rating):元器件允许的最大使用应力值。
应力(stress):影响元器件失效的电、热、机械等负载。
应力比(stress ratio):元器件工作应力与元器件额定应力之比。应力比又称为降额因子。
2. 降额设计的目的
降额设计就是要使元器件或设备工作时承受的工作应力适当低于元器件或设备规定的额定值,从而达到降低故障率、提高使用可靠性的目的。
电子产品和机械产品都应做适当的降额设计,因为电子产品的可靠性对其电应力和温度应力敏感,故降额设计技术对电子产品的设计显得尤为重要,成为可靠性设计中必不可少的组成成分。
3. 元器件降额范围的控制
对于各类电子元器件,都有其最佳的降额范围,在此范围内工作应力的变化对其失效率有较明显的影响,在设计上也较容易实现,而且不会在设备体积、重量和成本方面付出过大的代价。过度的降额并无益处,会使元器件的特性发生变化或导致元器件数量不必要的增加或无法找到适合的元器件,反而对设备的正常工作和可靠性不利。
4. 元器件的降额原则
l 在额定参数条件下降额
l 每个单项指标都要考虑降额
l 功率降额优先考虑<