STM32F373 SDADC高精度采集解析

原创于 2025-11-04 14:08:35 发布 · 553 阅读

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#STM32F373 # SDADC # Σ-Δ ADC # 高精度采集 # PGA # Sinc滤波 # 工业传感器

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STM32F373 SDADC 技术深度解析

在工业传感器、医疗设备和精密测量仪器的设计中，微伏级信号的稳定采集始终是一个令人头疼的挑战。传统的SAR ADC虽然响应快、成本低，但在面对热电偶几十μV/°C的输出或称重传感器毫伏级差分信号时，常常受限于噪声、非线性和温漂问题。这时，Σ-Δ架构的高精度ADC便成为破局的关键。

意法半导体（STMicroelectronics）推出的STM32F373系列MCU，正是为此类应用量身打造——它集成了三个独立的16位Σ-Δ ADC模块（SDADC），不仅具备出色的信噪比和分辨率，还内置可编程增益放大器（PGA）、数字滤波器和同步机制，使得开发者能在单一芯片上实现完整的高精度模拟前端解决方案。

这不仅仅是一次外设功能的叠加，更是一种系统级设计思维的转变：从“MCU + 外部ADC + 放大电路”的传统模式，转向“集成化、低噪声、软件可控”的新型架构。而SDADC正是这一演进的核心所在。

Σ-Δ ADC的工作原理与常见的逐次逼近型ADC完全不同。它不追求单次快速转换，而是通过 过采样 和 噪声整形 来换取极高的分辨率。简单来说，它的核心思想是“用速度换精度”。

以STM32F373中的SDADC为例，其内部采用的是一个一阶Σ-Δ调制器结构：

输入信号经过PGA放大后进入积分器；
积分器持续累积输入电压；
比较器将积分结果与参考电平比较，输出一位比特流（bitstream）；
这个1位数据被反馈回模拟域，形成闭环控制；
最终输出是一个高速脉冲密度调制（PDM）信号，其中“1”的密度正比于输入电压大小。

举个直观的例子：如果输入接近正满量程，那么bitstream中“1”会非常密集；如果是零输入，则“1”和“0”大致各占一半；负信号则表现为“0”占主导。这种看似粗糙的1位输出，其实包含了完整的模拟信息。

但真正的魔法发生在后续的 数字滤波与抽取 阶段。STM32F373的SDADC采用了两级滤波结构：

第一级是 Sinc³滤波器 ，本质上是一个三阶CIC（级联积分梳状）滤波器。它无需乘法运算，资源开销小，非常适合嵌入式实现。更重要的是，Sinc³滤波器具有天然的陷波特性能——当降采样率设置得当时，其频率响应会在50Hz或60Hz处形成深谷，恰好可以抑制工频干扰，这对工业现场的应用极为关键。

第二级是 FIR补偿滤波器 ，用于修正Sinc³滤波器在通带内的幅频响应衰减。原始Sinc³滤波会导致低频段增益下降，影响动态范围。通过加载一组预计算的FIR系数，可以在数字域重新拉平响应曲线，提升整体SNR和ENOB（有效位数）。用户甚至可以根据实际需求自定义这些系数，实现个性化的滤波特性。

最终，经过这两级处理的数据会被降采样为16位定点值，并可通过DMA自动传输至内存，完全解放CPU负担。

这种架构带来的优势是显而易见的。我们来看一组典型参数：

分辨率 ：最高可达16位，ENOB实测可达15.5位
输入类型 ：全差分设计，支持±VINAx / ±VINBx输入对
PGA增益 ：1×、2×、4×、8×可选（部分型号支持更高）
数据速率 ：从10 SPS到80 kSPS灵活调节
信噪比 ：>90 dB @ 20 SPS，足以分辨几微伏的变化
INL/DNL ：±4 LSB / ±1.5 LSB，线性度表现优异
同步能力 ：多个SDADC可由定时器统一触发，实现时间对齐采样

这些指标意味着什么？想象一个电子秤应用：桥式应变片输出仅0~30 mV的差分信号，在室温下可能每变化1°C就产生数百微伏的漂移。如果没有足够高的分辨率和良好的共模抑制能力，根本无法做到克级甚至毫克级的稳定读数。

而STM32F373的SDADC正好提供了这样的能力。其差分输入结构本身就具备优秀的CMRR（共模抑制比），能有效过滤掉长导线引入的电磁干扰；内部PGA可以直接将微弱信号放大至接近满量程，最大化利用ADC的动态范围；再加上Sinc滤波器对50/60 Hz的精准抑制，整个系统无需复杂的外部滤波电路就能获得干净稳定的输出。

更进一步，你可以用第二个SDADC连接一个PT100温度传感器，实时监测环境温度，并在软件中进行零点漂移补偿。两个ADC之间可以通过定时器同步启动，确保采集的时间一致性。这一切都发生在同一颗MCU内部，无需额外的DSP或FPGA。

下面是一个典型的初始化代码片段，展示了如何配置SDADC进行连续采集：

#include "stm32f3xx_hal.h"

SDADC_HandleTypeDef hsdadc1;
DMA_HandleTypeDef hdma_sdadc1;

void MX_SDADC1_Init(void)
{
    hsdadc1.Instance = SDADC1;
    hsdadc1.CommonConfig.CommonMode = SDADC_COMMON_MODE_INDEPENDENT;
    hsdadc1.CommonConfig.ClockAbsenceDetection = SDADC_CLOCK_ABSENCE_DISABLE;

    if (HAL_SDADC_Init(&hsdadc1) != HAL_OK) {
        Error_Handler();
    }

    SDADC_ChannelConfTypeDef sConfig = {0};
    sConfig.InputMode = SDADC_INPUT_MODE_DIFF_P_SE_N;     // 正端差分，负端单端
    sConfig.Gain = SDADC_GAIN_4;                          // 增益4倍
    sConfig.Offset = 0;
    sConfig.SincOrder = SDADC_SINC3_ORDER;                // Sinc³滤波
    sConfig.DecimationRate = 128;                         // 降采样率=128 → ~20 SPS
    sConfig.ConversionMode = SDADC_CONVERSION_CONTINUOUS;

    if (HAL_SDADC_ConfigChannel(&hsdadc1, &sConfig, SDADC_CHANNEL_0) != HAL_OK) {
        Error_Handler();
    }

    uint32_t adc_buffer[16];
    HAL_SDADC_Start_DMA(&hsdadc1, SDADC_CHANNEL_0, (uint32_t*)adc_buffer, 16);
}

void HAL_SDADC_ConvCpltCallback(SDADC_HandleTypeDef* hsdadc)
{
    for (int i = 0; i < 16; i++) {
        int16_t raw = (int16_t)(adc_buffer[i] & 0xFFFF);
        float voltage = (float)raw * 0.000122;            // 假设Vref=2.5V → LSB=~122μV
        Process_Voltage(voltage);
    }
}

这段代码看似简洁，背后却隐藏着不少工程细节：

DecimationRate 设置为128时，配合默认时钟可得到约20 SPS的输出速率，适合静态测量；
使用DMA而非轮询或中断方式读取数据，避免了高频中断带来的CPU负载；
回调函数中提取的是低16位，因为高位可能包含状态标志；
电压换算系数需根据实际基准源重新校准，不能直接套用理论值。

尤其值得注意的是， 初始几帧数据往往不稳定 ，建议在正式采集前丢弃前几个样本，或者启用“偏置校准”功能自动扣除零点误差。

回到实际应用场景。假设你要设计一款高精度电子秤，系统框图大致如下：

[称重传感器（桥式应变片）]
         ↓（mV级差分信号）
   → PA0/PA1 → SDADC1（PGA=64）
   → PB0/PB1 → SDADC2（用于温度补偿）
         ↓
[STM32F373 MCU]
   ├── ARM Cortex-M4 Core
   ├── 数字滤波 & 数据处理
   ├── 温度补偿算法
   └── UART/I²C → 显示屏或主机

工作流程也很清晰：