CMOS图像传感器——列噪声（CFPN）去除

        目前CMOS 图像传感器系统中列共用结构应用最为广泛，在该结构中，虽然像素曝光均匀，但是由于列输出系统处理属性的变动，对于不同列，像素的输出是不均匀的。因此，基于列的CMOS 图像传感器表现出垂直条纹固定模式噪声（CFPN），从而降低了图像的质量。由于人眼
的关系，CFPN 噪声造成的主观视觉影响是相同量级像素FPN 噪声的5 倍，人眼对CFPN 更为敏感，1~2%的列固定模式噪声视觉即清晰可见，因此有必要对其进行降噪处理来提高图像质量。

        CFPN 的主要来源有两个：差分放大器输入级的失配和列CDS 电路源跟随器的失配。在列级处理电路中通常需要用到运算放大器，而运算放大器的输入级是由MOS 管构成的，MOS 管的阈值电压失配是导致运放失调的直接原因；最终的差分输出电压与CDS 电路中的复位MOS管以及采样MOS 管的阈值电平之差有关，连接到每个列CDS 电路中的MOS 管阈值电压的不均匀性，这也带来了CFPN。

        目前去除CFPN 的方法大体可分为以下几种。

一、动态列交换技术

        动态列交换技术，是在像素矩阵和列处理电路之间插入"开关矩阵”(switching matrix),该矩阵可以选择读入的像素信号进入哪列处理电路，选择信号和选择逻辑则由数字电路设计给出，在每一行数据读出前切换一次，ADC量化后的数据