BIST（built in self test）入门

已于 2022-06-21 11:47:04 修改
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于 2022-04-21 10:23:57 首次发布
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BIST分为logic bist和memory bist（MBIST）。

logic bist测试随机逻辑电路。

memory bist 测试存储器电路，通过输入不同组数值测试sram存储器有没有坏点，需要将自检的硬件逻辑加到rtl里面。

存储器电路模型：地址译码器、读写控制逻辑、存储单元阵列

MBIST测试对象是RAM或ROM

MBIST电路图
在这里插入图片描述
1、向量产生电路
2、BIST控制电路（由状态机组成）
3、响应分析器（用比较器、MISR（multiple input register多输入移位寄存器）构成）

oneway1995
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引用:LBIST（Logic Built-In Self Test）是针对逻辑电路的自测试。测试激励由片上 PRPG（Pseudo-random pattern generation）来产生，输出响应通过 MISR（Multiple Input Signature Register）来压缩，最后对得到的特征值进行比对。LBIST 多应用于对可靠性要求较高的芯片（如汽车电子，工业级应用）的系统自检测试。LBIST产生的激励是随机的，所以天生的缺陷是测试覆盖率不充分，通过在设计中增加测试点(Test Point Insertion)可以在一定程度上得到改善。 引用:Boundary scan是附加在芯片I/O周边的扫描测试链，通过专门的测试端口(TAP)访问。在测试模式下，边界扫描链会接管功能逻辑，对I/O进行灵活访问。边界扫描链的结构，测试端口，以及其控制器(TAP Controller)，被IEEE定为标准协议(IEEE 1149)，也称做JTAG。边界扫描链最早应用于印刷电路板上芯片间的互联测试，后来也广泛应用于生产测试中对芯片管脚的测试。 引用:Memory BIST是测试存储器电路的方法，通过输入不同组数值测试SRAM存储器是否有坏点，需要将自检的硬件逻辑加到RTL中。 在以上引用中，"built in test"是指LBIST和Boundary scan这两种自测试方法。LBIST是通过在芯片上加入自测试电路、产生随机激励并通过压缩特征值进行比对来进行测试。Boundary scan则是通过在芯片I/O周边添加扫描测试链，以实现对芯片管脚的测试。这两种方法都是在芯片设计时内置的测试功能，用于系统自检测试和芯片管脚测试。

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