2024届数字IC秋招-华为机试-数字芯片-笔试真题和答案(三)(含2022年和2023年)

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前言

此部分包含华为机试真题,方向是数字芯片,内容详细包括设计、验证、后端等,大部分题目给出参考答案。华为机试都是从题库里抽题目,所以这些题目还是很有参考性的,甚至是完全一样,可以搜到的。
(题目内容较多,将分开编写几个文章)


1、根据芯片验证的质量要求,芯片系统验证中的测试点分解活动应该( )

A.采用全黑盒方式分解以保证规格的正确性
B.依靠验证人员对电路实现的充分揣测
C.主要考虑单元电路的设计内容
D.适当覆盖芯片内部实现

参考答案:A


2、不带复位端的寄存器,在芯片上电时状态不确定,因此不能作为 FIFO 里的数据存储单元使用。

A.正确。
B.错误。

参考答案:B


3、在同步电路设计中,逻辑电路的时序模型如下:T1为触发器的时钟端到数据输出端的延时,T2为连线延时,T3为组合逻辑延时,T4为时钟网络延时,假设时钟周期为Tcycle Tsetup、Thold分别为触发器的setup time、hold time。那么,为了保证数据正确采样(该路径为非multi-cycle路径),下面哪个等式必须正确:

A.T1+T2+T3+T4<Tcycle-Tsetup,T1+T2&#

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