Mentor-dft 学习笔记 day40-Basic Test Data Formats for Patterns

Reduce Serial Loading Simulation Time with Sampling

使用write_patterns命令时，可以使用-sample开关保存完整pattern集的样本。这将减少pattern文件中的pattern数量，从而减少模拟时间。此外，-Sample开关允许您控制样本中包含的每种类型的pattern数量。通过改变样本pattern的数量，可以微调串行模式的文件大小和模拟时间之间的权衡。

使用并行加载执行初始验证后，可以使用采样pattern集模拟串行加载，直到满意测试覆盖率合理接近所需规范。然后，使用未采样pattern集执行一次系列加载模拟，作为最后一个验证步骤。

Test Pattern Data Support for IDDQ

为了获得最佳结果，如果在每个非扫描周期后都捕获到额外的IDDQ故障，则应测量电流。但是，您只能在测试模式序列中的特定位置测量电流，通常是在测试循环边界的末尾。为了确定何时可以进行IDDQ电流测量，pattern文件在适当的位置添加以下命令：

measure IDDQ ALL;

几种测试pattern数据格式支持IDDQ测试。TDL 91（德州仪器）、MITDL（三菱）、TSTL2（东芝）和FTDL _E（富士通）中有特殊的IDDQ测量结构。这些工具将这些构造添加到测试数据文件中。所有其他格式（WGL和Verilog）将这些声明表示为注释。

Basic Test Data Formats for Patterns

Text Format

这是运行write_patterns命令时工具生成的默认格式。除了WGL、STIL和二进制格式外，该工具还可以以这种格式进行读取。 此格式包含基于文本的并行格式的测试pattern数据以及pattern边界规范。主模式块调用适当的测试过程，而标头包含测试覆盖率统计信息和必要的环境变量设置。该格式还包含每个扫描测试过程，以及关于设计中每个扫描存储元件的信息。 要创建基本文本格式文件，请在应用程序命令行输入以下内容：

ANALYSIS> write_patterns filename -ascii

Comparing the Text Format with Other Test Data Formats

许多情况下，可能会发现将模拟或测试数据格式的内容与文本格式的内容进行比较以便于调试。本节提供了此任务所需的详细信息。 通常，测试集中的第一个周期执行某些任务。所有测试数据格式的第一个测试周期关闭所有时钟引脚上的时钟，驱动所有双向引脚上的Z，驱动所有其他输入引脚上的X，并禁用任何主输出引脚上的测量。 测试pattern 集可以包含两个主要部分：用于检测扫描链中故障的链测试块，以及用于检测其他系统故障的扫描测试或循环测试块。

The Chain Test Block

链测试应用test_setup过程，然后是加载扫描链的load_unload过程，然后再次应用load_unlead过程卸载扫描链。每个load_unload过程依次调用shift过程。此操作通常会将重复模式“0011”加载到链中。但是，如果存在少于四个单元的扫描链，则操作加载和卸载一个重复的“01”模式，然后加载一个重复“10”模式。此外，当组中的多个扫描链共享公共扫描输入引脚时，链测试过程分别加载和卸载具有重复pattern的每个扫描链，以顺序测试它们。 测试过程文件在指定时间应用测试过程中的每个事件。每个测试程序对应于一个或多个测试循环。每个测试程序可以有一个具有不同定时定义的测试周期。默认情况下，所有事件都使用1纳秒的时间刻度。

The Scan Test Block

pattern 集中的扫描测试块从应用test_setup过程开始。扫描测试块包含多个测试模式，每个测试模式通常应用加载卸载程序，强