Mentor-dft 学习笔记 day50-667Two Types of EmbeddingThe &Cascaded Clock Gater&State Stability Data Format

本文介绍了时钟门控器的两种嵌入类型,探讨了B型时钟门控器在扫描链操作中的状态稳定性问题。同时,讨论了在两级时钟门控方案中的分类和状态稳定性检查,以及如何使用set_stability_check命令进行静态ATPG约束。文章还详细解析了状态稳定性报告中的数据列含义。
摘要由CSDN通过智能技术生成

 

Non-DRC Violation Clock Gater Embedding (Type-A)
该工具完全支持A类嵌入,原因如下。

•由于锁存器是透明的,当在load_unload开始时 assert scan_en时,时钟门控器会立即打开。因此,后续移位是可靠的,不会有扫描链跟踪DRC违规。

•由于gclk被控制为确定性关闭状态,因此其驱动的下游扫描单元不存在C1 DRC违规。

•该工具可以在时钟门控器的en和scan_en输入的扇形锥逻辑中拾取全部故障覆盖。这一覆盖范围通常很大。

Potential DRC Violation Clock Gater Embedding (Type-B)
B型嵌入具有以下不良特征。

•当PI/时钟处于关闭状态时,时钟门控器中的锁存器不transparent。这意味着在循环开始时其D输入的变化不会立即反映在其Q输出上。换句话说,打开或关闭时钟门控器的动作滞后于其指令。

•gclk的时钟关闭状态不是确定性的。这取决于时钟门控器中的锁存器在上一个周期中捕获的值。因此,该工具将发出C1 DRC

Type-B Scan Chain Tracing Failures (T3 Violations)
如果B型时钟门控器下游的扫描触发器被LE触发,结果将是扫描链跟踪失败。

这是因为缺少load_unload中的第一个移位边缘,如图A-3和图A-4所示。图A-3显示了B型时钟门控器驱动TE和LE扫描触发器的示例电路。

图A-4显示了捕获期间的几个信号的时序图以及加载卸载的开始。假设B型时钟门控器中的锁存器在最后一个捕获周期中捕获1(在捕获窗口中显示为Q_bar变低)。您可以看到,第一个前沿被抑制,因为锁存器在捕获后保持其状态并进入load_unload。尽管在load_unload开始时scan_en为高,但锁存器的输出在第一个移位时钟到达之前不会改变。“指令”和“动作”之间的延迟导致下游LE扫描触发器错过其第一个移位边沿。然而,TE触发的扫描触发器仍然能够在第一后缘触发。

Scan Cell Data Captures When Clocks are Off
T3违规很少发生在具有驱动LE扫描触发器的B型时钟门控器的设计中,通常是因为这些设计中的下游扫描触发器都是由综合工具制造的TE。这些工具处理B型时钟门控器,可以很好地驱动TE扫描触发器&#
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