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RSS订阅原创 Mentor-dft 学习笔记 day15-Test Point Usage Scenarios
Mentor-dft 学习笔记 day15-Test Point Usage Scenarios
2022-10-31 11:01:31
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原创 Mentor-dft 学习笔记 day14-Analyze and Insert Test Points in a Post-Scan Design的24步
Mentor-dft 学习笔记 day14-Analyze and Insert Test Points in a Post-Scan Design的24步
2022-10-28 13:53:52
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原创 Mentor-dft 学习笔记 day13-Scan Insertion for Wrapped Core案例
Mentor-dft 学习笔记 day13-Scan Insertion for Wrapped Core案例
2022-10-27 13:06:25
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原创 Mentor-dft 学习笔记 day12-Multi-Mode Chains&Scan Insertion Flows
Mentor-dft 学习笔记 day12-Multi-Mode Chains&Scan Insertion Flows
2022-10-21 11:22:02
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原创 Mentor-dft 学习笔记 day11-自动识别Shift Registers&Scan Chains
Mentor-dft 学习笔记 day11-自动识别Shift Registers&Scan Chains
2022-10-20 11:15:55
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原创 Mentor-dft 学习笔记 day10- InsertionSetup for Wrapper Chain Identification
Mentor-dft 学习笔记 day10- InsertionSetup for Wrapper Chain Identification
2022-10-19 11:15:03
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原创 Mentor-dft 学习笔记 day9-Internal Scan and Test Circuitry Insertion
使用Tessent Scan，可以分析设计，根据设计和用户约束分配新的扫描链，并在对设计执行实际扫描插入之前分析扫描链的分布和平衡。如果预先存在的扫描链未连接到EDT IP，则预先存在的搜索链将以add_scan_mode命令指定的所有扫描模式存在，并且即使在EDT模式下也将保持为未压缩的扫描链。扫描段是存在于较低级别/子模块内的扫描链，扫描段的未连接扫描输入和扫描输出位于较低级别或子模块的边界。在analyze_scan_chains过程中，预先存在的扫描段与其他扫描元素连接，以形成新的扫描链。
2022-10-18 13:17:56
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原创 传习录-Mentor-dft 学习笔记 day6-flatten&learning
Mentor-dft 学习笔记 day6-flatten&learning
2022-10-11 14:38:07
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原创 Mentor-dft 学习笔记 day5(Fault Class Hierarchy及scan element）
Mentor-dft 学习笔记 day5(Fault Class Hierarchy及scan element）
2022-10-10 15:15:25
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原创 Mentor-dft 学习笔记 day4-老六test cube和fault class
老六 test cube 以及 fault class（未完待续）
2022-09-30 14:34:56
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原创 Mentor-dft 学习笔记 day2--overview部分(ATPG，fault models)
overview部分(ATPG，fault models)
2022-09-28 15:19:56
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空空如也
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