论文《SWAP test and Hong-Ou-Mandel effect are equivalent》阅读笔记（关于swap-test and destructive swap test）

本期内容总结:

1. swap门
2. swap-test门
3. swap-test电路的多种形式
4. Destructive swap-test
5. 多量子比特的Destructive swap-test电路
6. Hadmard-test
7. 科普Hong-Ou-Mandel

1.swap门

名称：swap门
作用：交换两个量子态的输出位置，是个可逆操作；
电路实现：

2.swap-test（用于判断两个量子态是否相等）

swap-test常用于衡量两个量子态之间的相似程度，swap-test的电路如图所示：

我们可以看出下面是个swap门的电路，上面我们说利用swap-test来判断两个量子态的相似程度，那么这个过程是如何实现的呢？

假设输入的量子态分别为|0>、|φ>、|ψ>，输出态为：

通过上述推算，我们可以发现最终的量子态处于一个纠缠态，我们无法直接计算测得|0>的概率，因为上述结果并没有进行归一化的表示，测得|0>的概率推导过程为：

先测量辅助比特还是先测量输出的量子态，对于我们辅助比特位置上测得的结果并没有影响。要强调的是测量输出的量子态会导致塌缩，造成量子态的不可用，所以我们要准备很多份的量子态。

对于辅助比特位的测量我们利用的是z基，如果得到的经典信息是1，那么说明我们测得的是|0>态，如果得到的经典信息是-1，那么说明我们测得的是|1>态，那么这两个量子态是不相等的。这里测量两个量子态的相似程度，首先这两个量子态在初始输入的时候是独立的个体，而不是一个纠缠态</