液晶屏问题诊断：液晶屏缺陷检测算法总结

随着液晶显示技术的不断发展，液晶屏幕已经成为了各种电子设备中最为常见的显示屏幕类型之一。然而，由于长时间使用、意外撞击等原因，液晶屏幕可能会出现各种缺陷，例如亮点、暗点、白线、黑线等，这些问题都会严重影响屏幕的观感和使用寿命。为了解决这一问题，研究人员们开发了一系列液晶屏缺陷检测算法，旨在快速、准确地识别和定位液晶屏幕中的缺陷。这些算法可以应用于液晶屏幕的制造、品质控制、售后服务等方面，具有重要的应用价值。

多特征矩融合的液晶屏字符缺陷检测算法

为了实现液晶屏字符高效、精准的自动化检测，研究者提出了一种基于多特征矩融合的液晶屏字符缺陷检测算法。该算法针对液晶屏字符显示的断线、亮度缺陷进行了优化。首先提取原始液晶屏图像中感兴趣区域 (ROI)，然后使用 Hu 不变矩来描述字符的结构特征。

图1 多特征矩检测框架

为了弥补 Hu 矩所不能描述的高阶矩信息，采用 Zernike 矩。接下来，使用颜色矩来描述字符的颜色特征，并采用灰度矩来补充颜色矩所不能描述的灰度信息。运用 2DPCA 技术将上述矩阵融合，通过欧氏距离来