通用嵌入式系统自动化测试平台PXI架构产品

通用嵌入式系统自动化测试平台

通用嵌入式系统测试平台（Embedded System Interface Test Studio,简称： ETest）是针对嵌入式系统进行实时、闭环、非侵入式测试的自动化测试平台，适用于嵌入式系统在设计、仿真、开发、调试、测试、集成验证和维护等各阶段配置项级别和系统级别的动态测试与验证。

 ETest提供了针对嵌入式系统的半实物硬件在环仿真测试环境，通过模拟待测系统的外部环境并产生信号输入到待测系统，同时获取并分析待测系统的输出信号，实现针对嵌入式系统的自动化功能测试。

 ETest具有适用范围广、通用性强、自动化测试程度高、扩展性好、携带方便、配置灵活、操作简单以及使用成本低等特点，能满足军事工业、工业控制、仪器仪表、汽车电子等各领域嵌入式系统的测试与验证需求。

1.1   ETest主要特点

• 是一套完整的针对嵌入式系统的自动化动态确认测试平台，可以实现硬件在环、非侵入式的系统级测试，完成基于实装难以完成的测试任务；
• 集成测试资源管理、测试环境描述、协议脚本开发、测试用例设计、测试执行监控、测试任务管理等功能为一体；
• 具有通用化的通信协议定义与描述语言处理环境，可以定义和描述各类结构的总线协议；
• 具有高度开放的协议模板管理接口，通过不断在测试中积累各领域的应用层协议，实现针对不同领域嵌入式系统自动化测试解决方案的快速构建；
• 提供丰富的测试监控仪表和高度灵活的协议字段绑定方法，支持收发数据字段的双向绑定，并具有表达式绑定能力；
• 集可视化窗体灵活配置的人工测试与脚本化语言高级开发的自动化测试于一体，满足初、中、高不同级别的测试需求；
• 提供测试用例脚本编辑与开发环境，通过简单的通道与协议字段赋值，便可完成测试数据的收发与测试逻辑的判断；
• 在底层实现了接口与通道管理、协议组包与解包、协议的校验、测试参数的组合等功能，测试人员只需将关注点放在测试逻辑的设计与实现上；
• 具有插件化的功能扩充能力，无论是通信协议描述还是测试用例描述，平台都提供了对插件的开发支持；
• 具有分布式的软件体系架构和计算能力，可实现从单机到多机不同规模的测试环境构建；
• 可以完成单配置项单接口、单配置项多接口以及多配置项的系统测试任务；
• 支持多种类型测试：功能测试、接口测试、边界测试、强度测试、安全性测试、恢复性测试、性能测试、敏感性测试、余量测试、容量测试、压力测试、随机测试、异常测试等。

1.2   ETest主要功能

• 支持的I/O接口类型包括：RS232、RS422、RS485、MIL-STD-1553B、CAN、TCP、UDP、AD、DA、DI、DO、ARINC429、FlexRay、SPI、I2C，并可灵活补充扩展；
• 支持对待测系统及其外围环境、接口情况等进行可视化仿真建模设计；
• 提供通讯协议描述语言（DPD语言）及其编译编辑环境；
• 支持自定义可视化数据监控界面以及实时数据监控；
• 具有测试用例脚本编辑、开发与执行能力；
• 实时记录测试数据并加时间戳自动保存；
• 提供测试数据生成、接口调试等相关工具；
• 支持测试数据管理及统计分析；
• 高精度的数据采集及数据转换；
• 可通过表格、仪表、枚举、曲线图以及状态灯等手段实时监测关键变量；
• 可按二进制、十进制、十六进制监测输入与输出的原始报文并查询过滤；
• 支持测试记录及结果的查看、测试报告自动生成；
• 测试脚本语言支持时序测试和多线程任务测试；
• 系统扩展能力强，可灵活组建大、中、小不同规模的测试环境；
• 可根据测试需求集成函数发生器与高性能示波器等测试设备。

1.3   ETest架构

平台由软件和硬件两部分组成。软件部分主要包括测试设计软件模块、测试执行服务软件模块、测试执行客户端软件模块、设备资源管理软件模块、各类接口设备调试软件及测试辅助软件等。硬件部分主要包括测试主机、各类接口板卡以及相关设备等。

根据不同的客户需求，平台提供USB模式( ETest-USB)、PCI工控机模式( ETest-PCI)与PXI机箱模式( ETest-PXI)三种类型的架构产品。不同类型架构产品测试主机与接口板卡的形式不同。

4、 ETest-PXI架构产品

4.1 产品简介

PXI总线架构产品的硬件部分由PXI机箱、PXI控制器、PXI接口模块组成，其中PXI接口模块包括了RS232、RS422、RS485、CAN、1553B、AD采集、DA转换、DI/DO以及数字示波器、函数发生仪等模块。

PXI机箱中可安装一个PXI控制器模块以及NI或者其它厂商的多种总线接口模块、数据采集转换模块（实现模拟输入、模拟输出、数字输入、数字输出、定时器、计数器）、信号发生器、数字万用表等。

4.2 测试环境搭建

 ETest-PXI使用PXI架构的机箱及控制器，搭配各种接口模块，形成灵活的测试环境。利用了PXI背板的星形总线及系统时钟实现精确的时间校准与同步，适合于对实时性以及时间同步性要求极高的待测系统。

PXI机箱一般可选择4槽、8槽、18槽等。用户可以根据需要选择并灵活搭建测试环境。

1）常规测试环境：一套 ETest-PXI，包括1个PXI机箱、1个PXI控制器、多个PXI接口模块、采集模块等。PXI机箱、PXI控制器及模块参考图如下所示：

2）多套联合测试环境：多套 ETest-PXI通过局域网联网组成较大规模的测试环境。其中每套 ETest-PXI均包括1个PXI机箱，1个PXI控制器、多个PXI接口模块、采集模块等。多套 ETest-PXI通过网络集中管理调控，实现对较大规模、更复杂待测系统的测试需求。

    根据需求，用户还可以选择专用测试机柜，在机柜中安装PXI产品全部组件。

4.3 主要特点

• 面向试验、测量与数据采集场合PXI规范，使系统更适于在工业环境下使用，而且也更易于进行系统集成；
• 专门的系统参考时钟、触发总线、星形触发线和模块间的局部总线来满足高精度定时、同步与数据通信要求。