集成电路的测试概述

集成电路测试的定义

集成电路测试是对集成电路或模块进行检测，通过测量对于集成电路的输出回应和预期输出比较，以确定或评估集成电路元器件功能和性能的过程，是验证设计、监控生产、保证质量、分析失效以及指导应用的重要手段。

集成电路测试的基本原理

被测电路DUT(Device Under Test) 可作为一个已知功能的实体，测试依据原始输入X和网络功能集F(X)，确定原始输出回应Y，并分析Y是否表达了电路网络的实际输出。因此，测试的基本任务是生成测试输入，而测试系统的基本任务则是将测试输人应用于被测器件，并分析其输出的正确性。测试过程中，测试系统首先生成输入定时波形信号施加到被测器件的原始输入管脚，第二步是从被测器件的原始输出管脚采样输出回应，最后经过分析处理得到测试结果。

集成电路故障与测试

集成电路的不正常状态有缺陷（defect）、故障（fault）和失效（failure）等。

由于设计考虑不周全或制造过程中的一些物理、化学因素，使集成电路不符合技术条件而不能正常工作，称为集成电路存在缺陷。

集成电路的缺陷导致它的功能发生变化，称为故障。

故障可能使集成电路失效，也可能不失效，集成电路丧失了实施其特定规范要求的功能，称为集成电路失效。