思路:
1.当测试与被测试的芯片全部可以互相测试时,为好芯片;
示例代码:
#include <stdio.h>
#define N 20
int main(void)
{
int n = 0 ;
int i = 0 , j = 0 , a = 0 , b = 0;
int num[N][N] = {0};
scanf("%d",&n);
for (i = 0 ; i < n ; i ++)
{
for (j = 0 ; j < n ; j ++)
{
scanf("%d",&num[i][j]);
}
}
for (i = 0 ; i < n ; i ++)
{
a = b = 0 ;
for (j = 0 ; j < n ; j ++)
{
if (i == j)
{
continue;
}
if (num[i][j])
{
a ++ ;
if (num[j][i])
{
b ++ ;
}
}
}
if (a == b && a)
{
printf("%d ",i+1);
}
}
return 0;
}