android hal单元测试,用于HAL测试的参数化gtest

对于HAL接口，可能有多种实现。为了测试HAL实现的每个实例，标准方法是编写一个值参数化的gtest 。

基本测试设置

gtest必须继承基类testing::TestWithParam ，其参数是每个实例的名称。在SetUp方法中，可以根据实例名称实例化服务，如以下代码片段所示。 // The main test class for the USB hidl HAL

class UsbHidlTest : public testing::TestWithParam<:string> {

virtual void SetUp() override {

usb = IUsb::getService(GetParam());

ASSERT_NE(usb, nullptr);

...

}

对于每种测试方法，请使用宏TEST_P ，如下例所示。 TEST_P(UsbHidlTest, setCallback) {

...

}

如下例所示，使用宏INSTANTIATE_TEST_SUITE_P实例化套件。 INSTANTIATE_TEST_SUITE_P(

PerInstance, UsbHidlTest,

testing::ValuesIn(android::hardware::getAllHalInstanceNames(IUsb::descriptor)),

android::hardware::PrintInstanceNameToString);

争论是：InstantiationName ，可以是与您的测试匹配的任何内容。 PerInstance是一个通用名称。

测试类名称。

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