U盘、SSD、各种存储卡等都是采用Flash半导体芯片作为存储介质的，目前大部分的半导体存储设备都是采用MLC Flash芯片，相对来说更容易出现坏块，引起读写错误，从而导致重要数据损坏或设备工作不正常。h2testw是德国人写的一个windows下免费的Flash坏块检测软件，可以检测目前所有的半导体存储设备的坏块情况，该软件通过向选择的目录内写入自行产生的单个最大1G的文件然后读出校验的方式确定坏块，准确性不容怀疑；同时，该软件还能测试存储设备的实际读写速度，与ATTO DISKBENCH和HD TACH不同，h2testw测试的是存储设备的实际读写速度，本文就详细解释一下h2testw的使用方法。

打开h2testw，界面如下：

 

由于程序是德国人写的，默认的界面语言是德语，不熟悉德语的朋友