硬盘安装和伺服校正测试
TEST 01 - 制造临时日志
TEST 02 - 格式化和测试错误日志
磁头和电路校正测试
TEST 03 - 伺服校正信息
TEST 04 - 斜波加载/卸载测试
TEST 05 - 传感器滞后测试
TEST 06 - 磁头切换测试
TEST 07 - RUNOUT补偿测试
TEST 08 - 当检查伺服错误时盘上写入2T类型
TEST 09 - 磁头低飞显示
TEST 0A - 磁头稳定性测试
TEST 0C - 读取伺服缺陷测试位置
TEST 0D - 重学RRO ZAP测试
TEST 0E - 寻找跳过柱面测试（还未实现过）
TEST 0F - 当前写测试
磁头和电路校正测试
TEST 10 - 1E, 2A - 2E 适配区域#（最后区域）通过 0 -所有磁头
TEST 1F - 显示适配性，VCO，和DIODE温度设置
TEST 2F - 显示FIR适应性设置
伺服性能验证测试
TEST 20, TEST 60 - 伺服访问次数
TEST 21, TEST 25 - RRO/NRRO 测试
TEST 23 - 开始/停止 （10次）
TEST 24 - 开始/停止 （2000次）
TEST 29 - 伺服缺陷扫描
缺陷查找和再分配测试
TEST 30 - 验证所有磁盘组读取，AT级
TEST 31 - 楔形缺陷扫描. 磁头 0-1无读取级，50写级
TEST 32 - 楔形缺陷扫描. 磁头 2-3无读取级，50写级
TEST 36 - 在对磁头0-1楔形扫描中查找出来的缺陷进行定位
TEST 37 - 在对磁头2-3楔形扫描中查找出来的缺陷进行定位
TEST 3A - 使用1重复读取所有磁头抛光和缺陷测试，重复50次
TEST 3B - 建立缺陷表；填充受损磁头0，1
TEST 3C - 建立缺陷表；填充受损磁头2，3
TEST 3D - 建立缺陷表；填充受损磁头4，5
TEST 3E - 建立缺陷表；填充受损磁头6，7
TEST 3F - 回送测试，写通过测试
错误率性能测试
TEST 40- 开始/停止（10次）
TEST 41- 磁道侵入
TEST 42- SPIN STAND模拟器- 区域较小错误碧绿
TEST 43- RAM 测试
TEST 46- 数据编译比率
TEST 47- 冷写/磁道擦除显示
TEST 48- 错误率，写通过
TEST 49- 写/读/比较（零式样）
TEST 4A- 补偿系数检测
TEST 4B- 读
TEST 4B -所有磁道冷写显示
TEST 4C- 磁头飞行高度测量
TEST 4D- 收集自动FA数据
TEST 4E- 检查积累健康和创建自检概要
TEST 4F- 失败磁盘测试
TEST 50- 通过磁盘测试
特殊测试
TEST 51 - 错误率
TEST 52 - 磁盘组写RRO 测试
TEST 54 - 拾取歪测
TEST 55 - 一百万随机读写
TEST 56 -写/读/比较（零式样）
TEST 61,62,63- 制造可靠性测试
TEST 64- 磁头稳定性测试
TEST65，66，67 - 媒体延时测试