实现图元及属性的算法---反走样的实现方法

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反走样的实现方法

• 这种由于低频取样而造成的信息失真称为走样。可以使用校正不充分取样过程的反走样方法来改善所显示的光栅的外观。
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• 可以移动像素区域的显示位置而实现光栅对象的反走样，这种技术称为像素移相。

直线段的过取样

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• 对有限宽线段进行过采样的一个优点是：总的线亮度分布在更多的像素上。
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• 对于斜率|m|>1的直线段，根据线段与像素的相交位置来确定线段路径来定位在多边形边界的左边或右边。

子像素的加权掩模

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直线段的区域取样

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• 在线段边界内，子像素的总数近似等于覆盖区域，并且这种估计结果的精度可以通过采用更细的子像素网格而得到提高。

过滤技术

像素移相

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直线亮度差的校正

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• 这导致的视觉效果是对角线的斜率来调整其亮度，就可以对这种效果进行校正。
• 水平线和垂直线将以最低的亮度显示，而45度线则以最高亮度显示。一旦将反走样技术应用于显示，就可以自动校正亮度。当考虑直线段的有限宽度时，可以把整体线段显示亮度调整为正比于其长度。

区域边界的反走样

• 一种由Pitteway和Watkinson提出的确定边界内像素区域百分比的方法，是以中点算法为基础的。这个算法通过测试两个像素间的中间位置，确定那个像素更接近于直线而选择沿着扫描线的下一个像素。
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转载于:https://my.oschina.net/liyangke/blog/2414018