《电子元器件的可靠性》——3.5节指数分布情况的寿命

本节书摘来自华章社区《电子元器件的可靠性》一书中的第3章，第3.5节指数分布情况的寿命，作者王守国，更多章节内容可以访问云栖社区“华章社区”公众号查看

3.5　指数分布情况的寿命
试验寿命试验是指评价分析产品寿命特征量的试验，它是在实验室里，模拟实际工作状态或储存状态，投入一定数量的样品进行试验，记录样品数量、试验条件、失效个数、失效时间等，进行统计分析，从而评估产品的失效分布和各项可靠性指标。对于电子元器件的寿命试验，现在采用较多的还是属于破坏性的寿命试验。
在确定和了解电子元器件及材料可靠性指标的试验中，一般都在可靠性筛选和例行试验合格的产品中抽样进行。对于许多产品，可以认为早期失效产品已经剔除，其寿命分布已进入偶然失效期，并且基本上属于指数分布。即使有些产品不服从指数分布，例如，服从威布尔分布，但其形状参数m接近于1，可以用指数分布来近似。因此，研究符合指数分布情况的寿命试验具有普遍意义。
由于一般电子元器件及材料的可靠性都很高，要使产品全部失效所需时间很长。另外，可靠性是统计概念，只要有一定的失效数据就可以用统计方法确定出可靠性指标。也就是说，不必知道全部产品的失效数据。因此，在可靠性寿命试验中都采用截尾试验，按结束试验方式可分为定数截尾试验和定时截尾试验两种。
所谓定数截尾试验，就是指试验进行到规定的失效数（或失效次数）后，停止其试验。
所谓定时截尾试验，就是指试验进行到规定的试验时间停止试验。
在定数截尾和定时截尾试验中，又可以采用有替换和无替换两种方式，即在试验中每出现一个产品失效后，用同样的好产品替换或不替换两种方式。对于电子元器件常采用无替换方式，而电子设备或系统则采用有替换方式。
3.5.1　试验方案的确定
在寿命试验方案设计中，需要考虑和确定下面几个问题。
1.试验样品的抽取方法和数量的确定
因为寿命试验是为了了解产品的可靠性指标，所以试验样品必须选择本产品型号中具有代表性的规格。同时，投试样品在本质上应是同一设计，并建立了可靠性质量管理，在连续生产的产品中进行一次随机抽取，使所抽取样品具有代表性。而且试验样品必须经过可靠性筛选并从例行试验合格的产品批中随机抽取。
受试样品的多少，将影响可靠性特征量估计的精确度，其一般原则是：样品数量大，则试验时间短，试验结果较精确，但测试工作量大，试验成本高。因此，抽取样品数量的大小既要保证统计分析的正确性，又要考虑试验费用不用太高，为试验设备所允许，不能片面地追求某一方面的要求。对于高可靠、长寿命的产品，当成本及试验费用又较低时，样品数可多一些，一般不低于30个。对于普通电子元器件样品数量不少于10个，特殊产品不得少于5个。
2.试验应力类型的选择和应力水平的确定
试验应力类型的选择视试验目的而定。若要了解产品的储存寿命或工作寿命就必须施加一定的环境应力或电应力。这是因为产品的失效是由失效机理决定的，同一件产品往往同时存在着不同的失效机理，而失效机理是否发展和发展速度快慢，与外加应力有密切关系。对于寿命试验来说，受试产品的失效机理一定要与实际使用状态的失效机理相一致；否则，寿命试验所得数据没有实用价值。因此，要分析和研究在寿命试验中对失效机理的发展有促进作用的应力类型，也就是要选择对产品失效影响最显著或者最敏感的那些应力，而且这些应力所激发的失效机理应与实际使用状态的失效机理相同。因为这些应力比较充分地反映或者比较明显地影响产品的可靠性和寿命。此外，这些应力是容易控制和测量的，否则，寿命试验难于按设计方案进行。对于电子元器件与材料使用状态所承受的和导致失效最主要的应力是温度应力和电应力，因此常选用这些应力进行寿命试验。它们可以是单一的应力，也可以是同时作用的两个或两个以上应力。
在试验过程中，要严格控制试验条件，保持试验条件的一致性，这是保证试验结果的正确性所必需的。
试验应力的水平也应视试验目的而定。一般来说，试验应力高，产品失效快，试验时间短，但最高应力受限于产品本身的使用极限，通常应以不改变元器件在正常使用条件下的失效机理为原则。如无特殊规定，试验应力水平应选择产品技术标准规定的额定值。
3.测试周期的确定