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基于虚拟仪器技术的数字符合测量系统设计与实现

赵修良,秦慧超,陈希维,高 波,周芷千,刘丽艳,贺三军*

(南华大学 核科学技术学院,湖南 衡阳 421001)

摘 要:根据符合测量和虚拟仪器原理,设计并搭建了数字符合测量系统,并通过测量标准源验证系统性能。该系统硬件部分主要由探测器和前端电子学组成,探测器选用了晶体尺寸为Ф40 mm×40 mm的FJ374型号的NaI(Tl)探头,同时选用BH1218型放大器对脉冲信号进行放大和成形,以匹配PCI-1714UL数据采集卡的采样频率(10 MHz)和输入电压范围(0~5 V);设计了数字符合的数据处理方案,使用LabVIEW编程虚拟仪器数据处理软件,该软件由数据采集、能谱测量、相对时延分析与符合事件甄别三个VI模块组成,实现并替代对应电子模块的功能,能够对采集到的数字信号进行处理,实现数字符合测量。使用该系统测量了60Co标准源,通过测量能谱与相对时间谱确定最佳能窗范围与符合分辨时间,连续测量10次;该标准源的参考活度为101 906.5 Bq,测量结果为101 987.5 Bq,且10次测量的相对误差均在2%以内。实验结果验证了虚拟仪器软件各模块的功能,以及数字符合测量系统的性能。

关键词:虚拟仪器;数字符合测量;数据处理方案;系统验证

0 引 言

符合法是放射性活度测量最准确的方法之一,在放射性测量、中子物理、核反应研究等领域具有广泛的应用[1-2]。随着高性能ADC和大规模可编程数字器件的出现和发展,S.M.Buckman和D.Ius提出了数字符合的概念,即使用高速的A/D转换设备,将符合支路的模拟信号的幅度变化按时间顺序记录下来,然后使用不同的方式处理数据,替代电子模块的功能,甄别出符合信号。相对于传统的模拟符合,数字符合不仅能够替代电子模块阈值甄别、能谱分析、时幅转换、符合事件甄别和死时间修正等诸多功能,而且能够灵活地设置γ能窗的数量和位置、相对平均时延和符合分辨时间等,同时减少了仪器设备维护成本,降低了工作人员的专业素质需求[3-5]。

随着可编程测量系统的开发和使用,通过改变计算机的算法而不替换硬件组件的数字化测量系统的优越性逐渐得到体现,而虚拟仪器是主要发展的概念之一。其主要思想是利用计算机来管理仪器、组织仪器系统,将传统仪器中部分硬件电路用软件来实现,具有价格低廉、维护费用低、复用性强、扩展灵活、技术更新周期短和测量速度快等诸多优点,也能克服模拟模块修复或更新日益困难的问题。目前最流行的方法是通过集成工具开发平台编程软件,如LabVIEW、LabWindows、HP VEE等[6]。基于虚拟仪器的集成开发平台更容易快速创建、绘制和显示测量数据,因此,许多学者使用虚拟仪器技术开发数字符合测量系统。在2011年,J.Pechousek等人报道了一种数字化仪器为核心的测量系统,该系统采用了采样频率为200 MHz的高速A/D转换设备,数字信号处理部分在LabVIEW编程环境下实现,实现高精确的多道能谱分析和时间分辨测量的功能,并能够用于数字符合测量[7]。2018年,M.T.Durán等人使用爱尔兰辐射物理研究所研制的数字符合测量系统,该系统采用了最大采样频率为800 MHz数据采集设备,并使用LabVIEW环境编写系统数据处理软件,测量结果与传统的模拟系统的一致[8]。上述系统采用了具有独立功能的数字化电子仪器或模块,并且需要在指定的扩展或控制设备上运行,其价格昂贵,不利于在通用设备上使用和扩展,修复或者更新需要高昂的代价。

为了解决上述问题,本文设计并实现了一种符合测量系统,该系统采用了通用前端电子模块,保证符合支路相对时间信息不变的情况下,对模拟信号进行了必要的放大和成形,降低了对数据采集卡性能的需求;采用了10 MHz的PCI-1714UL数据采集卡,可以在通用计算机上使用或移植;使用LabVIEW设计并编程了数字符合处理软件,替代了传统符合能谱测量、相对时延分析和符合甄别对应功能的电子模块;将探测器、前端电子模块、高速数据采集卡和数字符合处理软件组合成数字符合测量系统,并通过实际测量,验证了该系统的性能。

1 系统搭建与软件设计

1.1 探测器与前端电子模块

数字符合测量系统结构如图1所示,主要由NaI(Tl)探测器、主放大器、PCI-1714UL数据采集卡和虚拟仪器处理软件组成。通过调整探测器和主放大器的工作参数,使脉冲信号不失真地被数据采集卡采集,并通过虚拟仪器软件处理数字信号,实现数字符合测量。

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图1 数字符合测量装置结构
Fig.1 The structure of digital coincidence measurement system

一般来讲,探测器的灵敏体积越大,时间离散也越大。探测器的选择,不仅需要考虑探测效率,也要兼顾到符合支路脉冲信号的离散程度,因此该系统采用了2台晶体尺寸为Φ40 mm×40 mm FJ374型NaI(Tl)探头。该NaI(Tl)闪烁晶体封装时,晶体与PMT(光电倍增管)之间涂抹了硅油(光学耦合剂),减少了光在闪烁晶体与光阴极窗界面的全反射。经过光电倍增管倍增后,在阳极负载上产生电压脉冲,然后耦合到跟随器的输入端。该NaI(Tl)探头跟随器采用White(怀特)式阴极跟随器,其输入阻抗为30 kΩ,输出阻抗小于50 Ω,具有良好的匹配特性。

NaI(Tl)探头输出的信号幅度小、持续时间短,不能够匹配符合测量装置A/D转换设备采集装置的电压范围(0~5 V)和采样频率(10 MHz),还需要通过主放大器,对脉冲信号进行放大及成形。主放大器采用BH1218型主放大器,其放大倍数在5~750倍之间连续可调,具有良好的积分非线性、微分非线性及长期稳定性,适用于长时间γ信号的测量,而且还具有多个“积分”、“微分”档位用于积分控制和微分控制,以获取最佳脉冲。

1.2 虚拟仪器数据处理软件

该系统以商用的PC为基础,PCI-1714UL数据采集卡作为实现数字化测量的“桥梁”,使用LabVIEW软件开发平台编程VI模块,并将这些模块进行合理的搭配,使该计算机成为一台“综合”的测量仪器,替代了具有能谱测量、相对时延分析和符合甄别对应功能的电子模块。

虚拟软件的设计思路如图2所示。该软件首先执行的是数据采集VI模块,该模块对PCI-1714UL数据采集卡的采样频率、输入电压范围设置,并将采集到的信号以“数据流”的形式在编程好的LabVIEW程序框图中处理;然后通过滤波、寻峰,识别脉冲信号的幅度信息,进行能谱测量,确定γ窗的位置、大小;设置了相对时延分析的功能,用于消除符合支路之间的相对平均时延,能够使符合分辨时间调整为最佳,并根据脉冲信号的定时结果甄别符合事件,计算符合测量结果。

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图2 数字符合处理软件数据处理流程图
Fig.2 Virtual instrument software data processing flow chart

2 数字符合实现

2.1 数据采集

该系统使用研华PCI-1714UL数据采集卡采集数据,其主要性能如表1所示。该数据采集卡由4组相同的电路和AD芯片,能够4通道模拟量同步采集,保证各通道间的相对时间关系,其最高的采样频率10 MHz,同时该采集卡的每通道具有8 K的FIFO,用于高速数据传输,可以实现数据实时的传输和处理。

表1 PCI-1714UL数据采集卡基本参数
Table 1 Basic parameters of PCI-1714UL DAQ

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数据采集卡参数设置模块如图3所示。在LabVIEW背面板的测量I/O/DAQNAvi_data Acquisition面板中,通过DAQNAvi_property_Assistant,设置模拟量输入物理通道和电压范围,并将任务参数输入到DAQNAvi_Creat channel;在 DAQNAvi Timing中设置数据采集卡采样频率和数据读取的缓存空间大小;使用DAQNAvi_reda读取采集到的信号,读取方式选择Analog 2D DBL Nchan NsampAD,并将该VI置于while循环中,直到按下停止按钮,任务结束时清除采集任务,方便下次数据采集模块的启动。

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图3 PCI-1714UL数据采集卡参数设置VI
Fig.3 PCI-1714UL DAQ parameter settings VI

2.2 能谱测量

γ窗的大小是通过能谱测量来选择,其主要目的是为了筛选出γ能谱的完整的全能峰。能谱测量模块如图4所示,该模块能够处理两个符合支路的脉冲信号,并选择γ窗的范围。通过S-G滤波器降噪,并获取脉冲信号的幅度信息获取能谱,用户可以在能谱显示界面选择游标合适的位置,通过调用ch1、ch2能谱显示控件的属性节点,获取游标对应的道址,同时将道址换算为幅度。其中x1、x2分别表示第1道γ窗的左边界和右边界,y1、y2分别为第2道γ窗的左边界和右边界。

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图4 γ能谱测量VI
Fig.4 γ spectrum measurement VI

2.3 相对时延分析与符合事件甄别

相对时延分析与符合事件甄别VI如图5所示。该VI首先对符合支路进行相对时延分析VI,确定并消除相对平均时延,使符合分辨时间调整为最佳,然后通过符合事件甄别VI记录符合事件。相对延迟分析VI和符合甄别VI分别置于两个不同的条件结构中,由符合开关控制,当开关为真时则进行符合甄别,为假时则进行相对时延分析。相对延迟分析以ch2的时间参照,可以分析事件间隔在1 000 ns以内的所有符合事件;此外,符合事件甄别VI还可以记录ch1、ch2计数率n1、n2,及计算待测样品或放射源的活度。

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图5 相对时延分析与符合事件甄别VI
Fig.5 Relative delay analysis and coincidence event screening VI

3 实验验证

3.1 符合支路信号调试

γ级联射线几乎同时进入两NaI(Tl)晶体,但是由于符合支路电子模块性能的差异,造成了本来同时的符合信号出现了相对时延。而信号调试的目的,是在保证采集信号不失真的情况下,减少符合支路之间相对时延。

可以调整高压电源,使其输出的脉冲信号具有相似的时间特性(上升时间、峰持续时间等),降低两支路之间的相对时延。不断调整两探头的供电电压,每调整一次,使NaI(Tl)在该电压下工作1 h,通过TDS 1002B示波器观察探头1、2的输出波形,最终确定探头1、2的供电电压分别为552 V、639 V(结果不唯一),其输出波形如图6所示。

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图6 第1道探头输出和第2道探头输出
Fig.6 The 1st probe output and the 2nd probe output

主放大器主要用来调整脉冲信号的放大倍数和成型时间。由于在符合分析时,除了脉冲幅度输入和输出的线性关系外,同时也应该减少脉冲堆积发生的概率,以保证两符合支路脉冲信号的相对时间关系不变。调整主放大器的积分和微分,使脉冲信号尽量窄,减小堆积发生的概率,同时也应保证输出信号良好的信噪比,调整的脉冲信号如图7所示。

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图7 第1道放大器输出和第2道放大器输出
Fig.7 The 1st amplifier output and the 2nd amplifier output

经过上述分析和调试符合支路脉冲信号的相对时间信息最大程度地保留下来,然后输入到数据采集卡,进行数据处理与分析。

3.2 数字符合测量

软件开始运行后,首先测量γ射线的能谱,选择“积分”模式,将红色游标调整在合适的位置,其所处道址转换为幅度后,即为γ窗的下阈值。H.Paradis、S.M.Collins等[9-10]推导了一种60Co源活度符合计算公式,但计算方式太过复杂,而且需要探测器具有良好的能量分辨率,因此采用一种简单的符合计算公式:

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(1)

n1、n2分别为探头1、2的计数率,nγγ、nrc分别为总符合计数率和偶然符合计数率。

该公式的前提条件是ε11≈ε12,ε21≈ε22,其中ε11、ε12分别为探头1对1 173 keV、1 332 keV能量的γ射线探测效率,ε21、ε22分别为探头2对1 173 keV、1 332 keV能量的γ射线探测效率。因此需要保证两γ射线的全能峰全部被记录下来才能满足条件,γ窗的选择如图8所示,选择γ窗的的宽度比较大,尽可能的保证全能峰的计数被记录到。

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图8 能谱测量结果
Fig.8 Spectrum measurement results

第1道γ窗的左边界和右边界分别为519道、797道,对应的下阈值和上阈值为2.53 V、3.89 V;第2道γ窗的左边界和右边界分别为510道、813道,对应下阈值和上阈值分别为2.49 V、3.97 V。

相对时延分析如图9所示。从图9中可以看出,符合支路的相对平均时延为80 ns,峰的宽度为80 ns,将符合支路之间80 ns的相对时延消除,符合分辨时间应为时间谱中峰宽度的一半,因此符合分辨时间设置为40 ns。

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图9 相对时延分析
Fig.9 Relative delay analysis

此外还需要进行偶然符合修正,其修正公式为:

nrc=2τn1n2

(2)

式中:τ为符合分辨时间。

测量时间设为60 s,连续测量10次,结果见表2。探头1、探头2的计数率使用n1、n2表示,总符合计数率使用nγγ表示,偶然符合计数率使用nrc表示,A为测量的放射性活度,δ表示测量结果与参考值之间的误差。该60Co源在2015年10月份生产,源号为14C04R1021,出厂活度为173 000 Bq,测量日期为2019年11月份。经放射性衰变修正后,该源的活度约为101 906.5 Bq,测量结果为101 987.5 Bq,10组测量结果与标准活度的偏差均在2%以内。从测量结果可以看出,在40 ns的符合分辨时间下,理论上的偶然符合计数约占总符合计数的1.2%,在实际的测量过程中,可能会有相应的统计涨落,但是对测量结果的影响不会太大。

表2 符合分辨时间为40 ns时的测量结果
Table 2 The measurement results at the resolution time of 40 ns

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4 结 论

根据符合测量和虚拟仪器原理,设计并实现了数字符合测量系统。设计了数字符合处理方案,并通过LabVIEW编程虚拟仪器数字符合处理软件,该软件能够实时的处理信号,具有可视化的界面,测量并显示γ射线的能谱,以及相对时间分析的时间谱;另外符合测量中,偶然符合与真符合是无法区分的,只能通过理论计算修正偶然符合带来的影响,而该软件不仅能方便地调节γ窗的位置和大小,并能消除符合支路的相对时延,调整符合分辨时间为最佳,能够减少偶然符合发生的概率,降低其对测量结果的影响。本文还给出了该系统用于符合测量的具体过程,包括信号调试的方法,以及数据处理和符合测量的结果。而且最佳符合分辨时间为40 ns,使得偶然符合发生的概率很小,符合测量结果基本不受偶然符合的影响。

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Design and Implementation of Digital Coincidence Measurement System Based on Virtual Instrument Technology

ZHAO Xiuliang,QIN Huichao,CHEN Xiwei,GAO Bo,ZHOU Zhiqian,LIU Liyan,HE Sanjun*

(School of Nuclear Science and Technology,University of South China,Hengyang,Hunan 421001,China)

Abstract:According to the principle of coincidence measurement and virtual instrument,a digital coincidence measurement system is designed and built,and verified by the measurement standard source.The system only retains the detector and front-end electronics.The detector uses two FJ374 type NaI (Tl) probe with a crystal size of Ф40 mm×40 mm,and a BH1218 amplifier is used to amplify and shape the pulse signal to match PCI-1714UL data acquisition card of the sampling frequency (10 MHz) and input voltage range (0~5 V);A digitally compatible data processing scheme is designed,using LabVIEW to program virtual instrument processing software to process the collected digital signals to achieve digital conformance measurement;the software is composed of three VI modules of data acquisition,energy spectrum measurement,relative time delay analysis,and coincidence event identification,which implement and replace the functions of corresponding electronic modules.It measures the 60Co standard source,determines the best energy window range and coincidence resolution time by measuring the energy spectrum and time spectrum,and make 10 consecutive measurements;the reference activity of the standard source is 101 906.5 Bq,and the measurement result is 101 987.5 Bq,and the relative errors of 10 measurements are all within 2%.The experimental results verify the function of each module of the virtual instrument software and the performance of the digital compliance measurement system.

key words:virtual instrument;digital coincidence measurements;data processing scheme;system verification

LabVIEW高级编程虚拟仪器工程应用(修订版)》适用有一定LabVIEW编程基础的测控工程技术人员,帮助其搭建高级技术框架,积累开发经验;同时也可作为本科生毕业设计、研究生完成课题和工程技术人员开发测控项目的参考用书。 目录 第1篇LabVIEW高级编程技术 第1章测控项目管理 1.1测控项目的生命周期 1.2系统定义 1.2.1 问题定义 1.2.2可行性研究 1.2.3 需求分析 1.2.4软件原型 1.2.5 文档管理 1.3总体设计 1.3.1硬件结构设计 1.3.2软件结构设计 1.3.3 总体设计说明书 1.4详细设计 1.5程序编码 1.5.1编程风格 1.5.2说明信息 1.5.3 vl的保存 1.5.4手册编写 1.6系统测试 1.6.1硬件测试 1.6.2软件测试 1.6.3验收测试 1.6.4测试报告 1.7 系统维护 1.8 项目浏览器 1.8.1 项目浏览器的用途 1.8.2 项目库 1.8.3项目依赖关系 1.8.4程序生成规范 第2章应用程序控制与内部数据传递 2.1 VI Server技术简介 2.2动态加载VI 2.2.1监测内存中所有的VI 2.2.2 动态加载VI的程序 2.3动态控制VI运行 2.3.1 动态刷新被控VI前面板控件值 2.3.2选择性打开VI前面板 2.3.3子面板设计 2 4动态控制VI属性和前面板对象属性 2.4.1 动态控制VI属性 2.4.2动态控制前面板对象属性 2.5动态注册事件 2.5.1 动态注册用户接口事件 2.5.2处理用户事件 2.6运行菜单控制 2.6.1运行菜单的设置 2.6.2用程序代码进行运行菜单设置 2.6.3在程序中响应菜单选项 2 7通知器和队列 2.7.1 通知器 2.7.2 队列 2 R共享变量 2.8.1共享变量的创建 2.8.2单进程共享变量 2.8.3 网络发布共享变量 第3章程序设计模式与程序性能 3.1 程序的设计模式 3.1.1标准状态机 3.1.2主/从设计模式 3.1.3 生产者/消费者设计模式 3.1.4队列消息处理器 3.1.5其他设计模式 3.2程序调试技巧 3.3多线程程序 3.3.1基本定义 3.3.2 多线程应用程序的优势 3.3.3 LabVIEW实现多线程的方法 3.4程序性能优化 3.4.1程序运行速度 3.4.2 内存使用 3.5程序性能分析 第4章软件接口与外部数据通信 4.1 ActiveX技术应用 4.1.1 ActiveX技术简介 4.1.2使用ActiveX控件 4.1.3使用ActiveX自动化 4.1.4 LabVIEW作为ActiveX服务器 4.2.NET技术应用 4.2.1.NET技术简介 4.2.2 .NET技术应用 4.3动态数据交换 4.3.1 LabVIEW的DDE功能 4.3.2向Excel文件写数据 4.3.3 由Excel文件读数据 4.4 C代码调用 4.5库函数调用 4.6执行操作系统命令 4.7计算机网络基础知识 4.7.1 计算机网络的功能与发展 4.7.2计算机网络的结构 4.7.3 计算机网络模型 4.7.4计算机网络协议 4.8 TCP 应用 4.8.1发送数据编程 4.8.2接收数据编程 4.8.3程序的远程动态控制 4.9 UDP应用 4.10 串口通信 第5章数据存储与调用 5.1数据存储的时机 5.2打印报表 5.3数据库连接 5.3.1 LabVIEW与数据库的连接 5.3.2 LabVIEW对Access数据库的操作 5.3.3 LabVIEW对SQL Server数据库的操作 5.4 LabVIEW与实时数据库连接 第6章面向对象编程 6.1面向对象编程的概念 6.2 LabVIEW中面向对象编程的方法 6 2.1 LabVIEW类 6.2.2类的方法 6.2.3继承 6.3两种编程方法的比较 6.3.1测试目的 6.3.2面向过程的方法 6.3.3 面向对象的方法 6.3.4 两种方法的比较 第7章传统DAQ的模拟信号采集 7.1 硬件配置与测试 7.1.1传统DAQ安装 7.1.2传统DAQ设备配置与测试 7.2模拟输入 7.2.1传统DAQ的数据采集通道 7.2.2数据采集Vl 7.2.3传统DAQ模拟输入常用的基本术语 7.2.4测量直流电压信号 7.2.5 波形采集 7.2.6频率测量 7.3模拟输出 7.3.1输出直流信号 7.3.2输出波形信号 7.3.3 模拟输入/输出控制回路 7.4信号调理 7.4.1信号调理设备配置 7.4.2应变测量 7.4.3温度测量 第8章传统DAQ的数字信号与计数器输入/输出 8.1 数字信号输入/输出 8.1.1数字信号通道设置 8.1.2立即方式数字输入/输出 8.1.3握手方式数字输入/输出 8.2计数器输入/输出 8.2.1数据采集卡的计数器芯片 8.2.2 用计数器输出脉冲信号 8.2.3测量脉冲宽度 8.2.4测量TTL信号频率和周期 8.2.5事件计数与计时 第2篇虚拟仪器工程案例篇 第3篇C语言代码转换和LabVIEW2010新特性篇 LabVIEW常用中英文词汇对照表 参考文献
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