计算机控制技术实验报告2
中南大学
计算机控制技术实验报告
信息 院 专业 班 组
姓名 学号 指导老师
实验日期 2013 年 月 日
实验名称 温度闭环控制系统的设计和实现
一、实验目的
1.了解温度闭环控制系统的构成。
2.掌握PID 控制规律,并且用算法实现。
二、实验仪器设备
PC 机一台,TD-ACC+实验系统一套,i386EX 系统板一块,烤箱一台(选件)
三、实验内容、实验电路、实验步骤及数据处理
1.实验原理
温度闭环控制系统实验的系统方框图如下:
根据上述系统方框图,硬件线路图设计如下,图中画“○”的线需用户在实验中自行接好。
上图中,控制机算机的“DOUT0”表示386EX 的I/O 管脚P1.4,输出PWM 脉冲经驱
动后控制烤箱或温度单元,“OUT1”表示386EX 内部1#定时器的输出端,定时器输出的
方波周期=定时器时常,“IRQ7”表示386EX 内部主片8259 的7 号中断 (采样中断)。
实验中,使用了10K 热敏电阻作为测温元件,温度变化,电阻值变换,经转换电路变
换成电压信号,由模数转换器进行转换,转换完成产生采样中断,在中断程序中读取数字
量,构成反馈量,在参数给定的情况下,经PID 运算产生相应的控制量,最后由系统的
“DOUT0”端输出PWM 脉冲信号,经驱动电路驱动烤箱 (温度范围室温~200℃) 或温度
单元 (温度范围室温~70℃) 加热或关断,使温度稳定在给定值。其中系统定时器定时
10ms,一方面作为A/D 的定时启动信号,另一方面作为系统的采样基准时钟。
温度闭环控制系统实验的参考程序流程图如下:
2.实验步骤
1.按流程图6.2-3、4、5 编写程序,再编译,链接。参考程序名称为:ACC6-2-1.ASM。
2.按图6.2-2 接线,检查无误后开启设备电源。
3.装载程序,打开专用图形界面,运行程序并观察波形,分析其响应特性。
4.若不满意,改变参数积分分离值IBAND、比h例系数KPP、积分系数KII、微分系
数 KDD 的值后再观察其响应特性,选择一组较好的控制参数并记录下来。
5.注意:在程序调试过程中,有可能随时停止程序运行,此时DOUT0 的状态应保持
上次的状态。当DOUT0 为1 时,烤箱或温度单元将停止加热;当DOUT0 为0 时,烤箱
或温度单元将满功率加热,如果长时间让烤箱或温度单元处于全功率加热状态,可能会导
致烤箱或温度单元损坏,所以在停止程序运行时,最好将连接DOUT0 的排线拔掉或按系
统复位键。
实验程序参数表
符号 单位 取值范围 名称及作用TS 10mS 00H~FFH 采样周期:决定数据采集处理快慢程度SPEC ℃14H~FAH给定:即要求烤箱达到的温度值IBAND0000H~007FH积分分离值:PID 算法中积分分离值KPP 1/4096 倍 0000H~1FFFH 比例系数:PID 算法中比例项系数值KII 10mS 0001H~1FFFH 积分系数:PID 算法中积分项系数值KDD 10mS 0000H~1FFFH 微分系数:PID 算法中微分项系数值CH1 00H~FFH 通道1 值:示波器功能中所显示值需放入此单元中然后再调用UT_COM 发送子程序CH2 00H~FFH 通道2 值:(同上)YK ℃ 0014H~00FAH 反馈值:通过热敏电阻反馈算出的烤箱温度值CK 00H~FFH 控制量:PID 算法产生用于控制的量TKMARK 00H~01H 采样标志位ADMARK 00H~01H A/D转换结束标志位ADVALUE 00H~FFH A/D 转换结果寄存单元TC 00H~FFH 采样周期变量FPWM 00H~01H PWM 脉冲中间标志位CK_1 00H~FFH 控制量变量:记录上次控制量值EK_1 0000H~FFFFH PID 偏差:E(K) = SPEC(K)-YK(K)AEK_1 0000H~FFFFH △E(K) = E(K)-E(K-1)BEK 0000H~FFFFH △2E(K) = △E(K)-△E(K-1)AAA 00H~FFH 用于PWM 脉冲高电平时间计算VAA 00H~FFH AAA变量BBB 00H~FFH 用于PWM 脉低冲电平时间计算VBB 00H~FFH BBB变量R0----R8PID 计算用变量