利用dft的定义计算dft的matlab程序_电子产品DFT基础之ICT在线测试原理（上）

导读：随着现代制造工艺的发展，在线测试理论及方法也有很大的发展。作为电子制造企业，准备提升DFT的公司，有必要了解ICT的原理与应用对开发设计、生产制造的意义，对ICT测试理论和原理有一定的了解。

1.重新认识ICT

      在线测试ICT(In-Circuit Test),是通过对在线元器件(制成板上的元器件)的电性能及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试手段。它主要检查在线的单个元器件以及各电路网络的开、短路情况，具有操作简单、快捷迅速、故障定位准确等特点。

1.2 ICT的测试范围及特点

      检查在线元器件的电气性能和电路网络的连接情况。能够定量地对电阻、电容、电感、晶振等器件进行测量，对二极管、三极管、光耦合、变压器、继电器、运算放大器、电源模块等进行功能测试，对中小规模的集成电路进行功能测试，如所有74系列、Memory类、常用驱动类、交换类等IC。

      它通过直接对在线器件电气性能的测试来发现制造工艺的缺陷和元器件的不良。元件类可检查出元件值的超差、失效或损坏，Memory类的程序错误等。对工艺类可发现如焊锡短路，元件插错、插反、漏装，管脚翘起、虚焊，PCB短路、断线等故障。

      测试的故障直接定位在具体的元件、器件管脚、网络点上，故障定位准确。对故障的维修不需较多专业知识。采用程序控制的自动化测试，操作简单，测试快捷迅速，单板的测试时间一般在几秒至几十秒。

1.3意义

      在线测试通常能及时反应生产制造状况，利于工艺改进和提升。ICT测试过的故障板,因故障定位准，维修方便，可大幅提高生产效率和减少维修成本。因其测试项目具体，是现代化大生产品质保证的重要测试手段之一。

1.4其他

      飞针ICT基本只进行静态的测试，优点是不需制作夹具，程序开发时间短。

      针床式ICT可进行模拟器件功能和数字器件逻辑功能测试，故障覆盖率高，但对每种单板需制作专用的针床夹具，夹具制作和程序开发周期长。

    随着现代制造工艺的发展，在线测试理论及方法也有很大的发展。作为制造高科技产品的公司，有必要了解ICT的原理与应用对开发设计、生产制造的意义。下面对ICT测试理论和对电路设计的要求做一些简单介绍。

2 基本测试原理

2.1模拟器件测试

    利用运算放大器进行测试。由“A”点“虚地”的概念有：

     ∵Ix = Iref

         ∴Rx = Vs/ V0tRref

    Vs、Rref分别为激励信号源、仪器计算电阻。测量出V0，则Rx可求出。    若待测Rx为电容、电感，则Vs交流信号源，Rx为阻抗形式，同样可求出C或L。

 2.2 隔离(Guarding)

    上面的测试方法是针对独立的器件，而实际电路上的器件相互连接、相互影响，Ix≠Iref，测试时必须加以隔离(Guarding)。

         Rx是待测阻抗，R1、R2是电路板上与Rx有连接关系的阻抗的等效值。只要使G与F点同电位，R2中无电流流过，仍然有Ix=Iref，Rx的等式不变。将G点接地，因F点虚地，两点电位相等，则可实现隔离。实际应用时，通过一个隔离运算放大器使G与F等电位。

         隔离是在线测试实现的重要概念。

2.3 IC的测试

    对模拟IC的测试，可根据IC实际功能激励电压、电流，测量对应输出，当作功能块测试。

    对数字IC，采用Vector(向量)测试。向量测试类似于真值表测量，激励输入向量，测量输出向量，通过实际逻辑功能测试判断器件的好坏。如与非门的测试:

      为排除电路中器件的相互影响，同样要用到隔离的概念。因此在电路设计中，要慎重处理器件的片选、使能、复位、清零、输出使能等及时钟电路。

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