第5章节计算机辅助质量保证CAQ”
第五章 计算机辅助质量保证CAQ5.3 质量检测方法CAT 5.3.1 接触测量 坐标测量机基本原理:测量机靠探针测头接触被测工件(对象)进行测量。坐标测量机有一个基准笛卡尔坐标系,探针测头相对坐标系移动;被测物体可以任何位置及方位放置在工作台上而形成工作坐标系;用数学方法可将探针测头在工作坐标系的点坐标转换为其相对于基准坐标系的位置;从而测定物体在基准坐标系中的位置和尺寸。坐标测量机精度可达0.1um。 测头上探针的种类:机械探针、带电阻线路的探针、自带开关的探针、一维探针、二维探针、三维探针、万向探针等等。 第五章 计算机辅助质量保证CAQ5.3 质量检测方法CAT 5.3.1接触测量 2. 用机床进行尺寸测量 借助专用的外围测量设备及夹具也可以使用机床定位算尺结合二维或三维探针测头进行尺寸测量。 机床测量法主要功能:监测加工极限情况、磨损补偿。根据基准面确定工件位置、根据基准点补偿尺寸变化(热变形、受力变形等)、进行尺寸的自动检查。 3. 测量机器人 将测量探针安装在机器人手臂上,在程序控制下,探针沿工件表面移动,自动读出参数(工件与基准坐标系的关系)并输入计算机系统。机器人测量具有很大机动性,适用于多品种工件的测量。(尤其是大型工件测量)。 第五章 计算机辅助质量保证CAQ5.3 质量检测方法CAT 5.3.2 非接触测量 由于接触测量既麻烦又费时,人们又开发了非接触遥测方法。 1. 利用激光测量 利用激光可测量工件尺寸和表面完整性。例如,通过激光束发射、反射、准直射投在工件上,再用透镜、光敏器件收集透过来的余光,并记录余光强度。通过计算发射光强与收集光强的差值可算出工件的直径,其测量精度可达0.5μm。 2. 利用线性光敏二极管阵测量 其测量精度取决于管阵象素数目(密度)。 3. 利用声音分析进行测量 该法适用于研究产品振动特性的场合。 利用声信号的发射与拾取测量物体的振动特性。 第五章 计算机辅助质量保证CAQ5.3 质量检测方法CAT X M Y M Z M X W Y W Z W ( a) 三维坐标测量机 旋转棱镜 激光源 准直透镜 聚焦透镜 工件 光敏探测器 ( b) 激光测量工件原理 直 射 光 源 被测长度 物体 透镜 映象长度 光 敏 二 极 管 阵 ( c) 利用线性光敏二极管阵进行测量 第五章 计算机辅助质量保证CAQ5.3 质量检测方法CAT 5.3.3 人工输入法 还有很多产品质量参数不能用或不宜用现有设备测得,这些参数必须由人来测量、记录、输入(通过键盘或其他输入装置)。如工件表面的划痕、测量装置的磨损、质量趋势等等。 计算机集成制造系统概论第五章 计算机辅助质量保证CAQ 5.1 CAQ概述 5.2 CAQ系统 5.3 质量检测方法 5.4 CAQ中的计算机系统 第五章 计算机辅助质量保证CAQ5.4 CAQ中的计算机系统 5.4.1 质量控制用的多级计算机 通常的质量控制系统采用三级计算机结构:管理级计算机、主计算机、微计算机。 1. 管理级计算机(上层) 管理级计算机负责完成质量控制的管理功能。它管理用户关于产品的质量验收要求,并把它与本企业所设计的产品质量作比较,从而进行质量管理。 管理计算机的典型质量控制功能:支持质量规划;监控产品和零件的质量;计算质量成本;根据产品开发过程管理长、短期测试主文件;监测竞争对手产品的可靠性数据;加工能力行为研究;质量报告表生成;质量综合信息管理等。 第五章 计算机辅助质量保证CAQ5.4 CAQ中的计算机系统 5.4.1 质量控制用的多级计算机 2. 主计算机(中层) 该级计算机负责质量控制设备的功能完备性,完成统计计算。 主计算机典型质量控制功能:质量指标计算、质量趋势分析、优化测试参数、开发/存贮/改变测试程序、测量设备的协调/功能测试/误差识别、识别测试数据的误差、测试数据分析、积累统计数据、确定最多/最贵的缺陷、数据通信。 第五章 计算机辅助质量保证CAQ5.4 CAQ中的计算机系统 5.4.1 质量控制用的多级计算机 3. 微计算机(下层) 该级计算机负责具体的质量检测与控制功能,直接与产品有关,专用性较强,多采用微机控制。 微处理机在测试中的应用功能为: (1)系统控制功能:启停机、中断处理、操作转换、自动标定仪器、启动诊断仪器/程序。 (2)人机交互与控制数据I/O:人工操作程序、程序编辑、测试程序执行、设备监控、报警。 (3)测试程序操作与控制:测试仪器的驱动/初始化,测试过程控制、测试数据处理。 (4)测试数据处理:测试数据筛选、统计处理、偏移修正、线性化、标准化、比较处理、趋势分析等。 第五章 计算机辅助质量保证CAQ5.4 CAQ中的计算机系统
本章节介绍了计算机辅助质量保证(CAQ)中的质量检测方法,包括接触测量和非接触测量。接触测量主要使用坐标测量机,通过探针测头与工件接触来获取精度高达0.1um的测量数据,有多种类型的探针可供选择。非接触测量则利用激光和线性光敏二极管阵列等技术,实现高精度的尺寸和表面完整性测量。此外,还提到了人工输入法用于处理无法自动测量的质量参数。在CAQ系统中,多级计算机结构(管理级、主计算机和微计算机)分别承担质量管理、统计计算和具体检测控制等功能。
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