stm32 adc输入电压范围_STM32应用 | 在MCU电压浮动的硬体设计上实现如何用ADC量测电压...

在使用ADC取得输入的电压值时，有一个重要的参数是VDDA的电压值，因为从ADC量测取得的数值，需要用到VDDA的电压值，才能算出量测到的电压，公式如下。

VCHANNEL-X = VDDA ÷ ADC_RESOLUTION × ADC_DATAX

但是在部分在电池供电且线路设计较为简约的硬体上，有时会将电池直接供电给MCU，省略了LDO，故MCU的电压会随着使用时间而有压降的情况，回到上一个公式来看，因为VDDA变动，就会导致VCHANNEL-X的结果变动，以下就是要处理这个情况。STM32内部会产生一个参考电压，而STM32的ADC通常会有一个通道连接到这个参考电压让使用者可以量测，而STM32在出厂时，会在一个设定条件下用ADC量测这个内部参考电压，并将结果烧录在MCU ROM，我们可以利用这个条件来回推VDDA的电压。

依据上述公式和工厂校正的条件，可得到公式如下。

VDDA = 3000mV x VREFINT_CAL ÷ VREFINT_DATA

以下是实作方式，首先设置CubeMX的ADC，打开Vrefint Channel。

设置适当的ADC参数，因为STM32L152的ADC最大接受频率会随着MCU电压降低而降低，这个测试就先将ADC频率设置到最低电压能接受的最高频率。

以下是STM32L152的ADC说明，关于频率的部分。

设置适当的取样时间，须注意VREFINT所需的取样时间在datasheet中有说明，需参考datasheet后做适当的设置。

由上图从datasheet取得的内容得知最少需要4μs的取样时间，因为ADC的频率设置在4MHz，4μs ÷ ( 1 / 4MHz ) ＝16，故将Sampling Time设置在16 Cycles。

以上就完成CubeMX的设置，产生程式码后，在main.c中加入测试程式如下。

这边加入LL ADC driver的header档，里面有所需要的define和macro。

/* USER CODE BEGIN Includes */#include "stm32l1xx_ll_adc.h"
/* USER CODE END Includes */

这边加入所需要的两个变数，一个储存从ADC取得的转换结果，一个储存经运算后回推得到的电压值。

/* USER CODE BEGIN PV */

uint16_t dr_vrefint;

uint16_t vdda_mv;

/* USER CODE END PV */

下面是转换的程式码。

/* USER CODE BEGIN WHILE */

while (1)

{

HAL_Delay(100);

HAL_ADC_Start(&hadc);

HAL_ADC_PollForConversion(&hadc, 100);

dr_vrefint = HAL_ADC_GetValue(&hadc);

vdda_mv = __LL_ADC_CALC_VREFANALOG_VOLTAGE(dr_vrefint, LL_ADC_RESOLUTION_12B);

/* USER CODE END WHILE */

这样即可取得目前的VDDA电压，供之后ADC转换其他Channel的结果转换成电压使用。

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