本文详细介绍了紫外光电子能谱（UPS）的原理，包括其测量基础、装置和分析方法。UPS作为一种重要的表面态分析技术，主要研究材料的价带谱、逸出功等信息。文章还通过实例展示了UPS在材料表面改性、OLED电极修饰和有机太阳能电池中的应用，揭示了材料逸出功的变化及其影响。
光电子能谱技术自二十世纪六十年代迅速发展起来，并成为研究固体材料表面态的最重要和有效的分析技术之一，主要包括X射线光电子能谱(X-ray Photoelectron Spectroscopy，简称XPS)和紫外光电子能谱(Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy，简称UPS)两个分支体系。
Tunner 等人所发展的紫外光电子能谱，它的激发源在属于真空紫外能量范围，可以在高能量分辨率(10~20meV)水平上探测价层电子能级的亚结构和分子振动能级的精细结构，是研究材料价电子结构的有效方法。
紫外光电子能谱的测量原理
UPS测量的基本原理与XPS相同，都是基于爱因斯坦光电定律。对于自由分子和原子，遵循EK=hn-EB-Φsp，其中，hn为入射光子能量(已知值)，EK为光电过程中发射的光电子的动能(测量值)，EB为内层或价层束缚电子的结合能(计算值)， Φsp为谱仪的逸出功(已知值，通常在4eV左右)。
但是所用激发源的能量远远小于X光，因此&#
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