悬而未决的产线问题本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/201612/326810.htm
使用空中下载(OTA)的无线传输的方式(也称为无线耦合模式)为待测物(DUT)的RF部份进行测试,一直是许多ODM与OEM厂商多年来努力想要达成的目标。事实上,采用与DUT天线直接无线耦合以避免RF实体连接的测试模式已历经多方尝试了,但由于以下种种原因而无法得到令人满意的结果:
‧大部份的天线主要依靠电场进行传输,即使DUT的位置些微改变,也会让测试结果出现很大的变化。
‧相对于稳定的测试作业,具有多支天线的DUT上各天线之间的交互耦合通常会太强。
‧甚至要从整合于PCB的2.4GHz与5GHz小型天线取得高效能也相当具有挑战性,尤其是高度全向性以及效率达60-80%的天线。
然而,这些要求正是进行OTA测试的基本必要条件,透过一款结合CPL天线与测试设备实现的无线耦合测试方案,可望满足所有的要求,在Wi-Fi产品的生产制造过程中实现精确且低成本效益的测试。
CPL天线是一款结合磁圈辐射器与同位电场辐射器的复合式天线。相较于传统天线技术只激励电辐射器或磁辐射器,CPL天线同时激励两种辐射器,大幅提高了性能与辐射效率(达90%)。
OTA/耦合测试概念验证
为 了验证以CPL天线与生产级测试治具进行OTA测试的概念,DockOn已经使用网络分析仪以及LitePoint IQxel80对数十种DUT进行了大量测试作业。为了避免由于使用不同测试仪器而造成的结果差异,所有的主动测试都采用同一台IQxel80进行量测。 虽然从已有的测试结果中可以得到相当好的关连性,但针对更多待测组件进行重复性测试,可望取得更准确与完整的统计结果。测试的项目包括:
‧待测电路裸板测试结果的可重复性,以及在多个不同测试位置的耦合损耗。
‧在涵盖2.4-2.5GHz及5-6GHz频段的不同频段进行测试。
‧以产品测试脚本为具备完整功能的DUT进行超过25次的量测,以验证结果的可重复性。
‧为非指定天线进行交互耦合量测。
‧在OTA与传导模式下为DUT进行校正与测试结果比较。
‧在近场耦合下的天线特性以及非完美RF连接器影响测试结果。
简单地说,实验数据显示,在2.4-2.5GHz与5-6GHz频段下,针对RF传输校正与验证以及接收时,采用