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*通过使用频域中的自相关技术来确定单个芯片在晶片上的位置。
*晶圆的图像在频域中与其自身相关。
*之后,通过检测自相关图像中最大值的亚像素精确位置来确定单个管芯的位置。
*通过使用频域中的自相关技术来确定单个芯片在晶片上的位置。
*晶圆的图像在频域中与其自身相关。
*之后,通过检测自相关图像中最大值的亚像素精确位置来确定单个管芯的位置。
dev_update_off ()
read_image (Wafer, 'wafer/wafer_dies')
*read_image (Wafer, 'D:\\Desktop\\Image-0092.bmp')
get_image_size (Wafer, Width, Height)
dev_close_window ()
dev_open_window (0, 0, Width, Height, 'black', WindowHandle)
dev_set_line_width (2)
set_display_font (WindowHandle, 16, 'mono', 'true', 'false')
dev_display (Wafer)
disp_message (WindowHandle, 'Determine the size of the dies on the wafer', 'window', 12, 12, 'black', 'true')
disp_continue_message (WindowHandle, 'black', 'true')
stop ()
*(* )
*计算晶片图像的自相关
rft_generic (Wafer, ImageFFT, 'to_freq', 'n'

该博客介绍了如何运用频域中的傅里叶变换和自相关技术来精确定位晶圆上的单个芯片。通过晶圆图像的频域自相关,检测最大值的亚像素位置,从而实现芯片的精确定位。
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