Memory Fault Types

本章描述了各种memory fault models，包含每个fault model的以下信息：

• 故障行为的一般描述。
• 检测故障所需的测试序列。
• membistGenerate提供的测试算法，cover故障。

1.Address Decoder Faults

该模型包含的地址解码逻辑的故障，可能有三种不同的故障行为：

• ADa：某个地址导致没有cell被访问。
• ADb：某个地址同时访问多个cells。
• ADc：某个cell可以被多个地址访问。

地址解码器故障实际上可以映射到存储单元阵列中的故障，因此，覆盖存储单元阵列故障使这些故障也被覆盖。

2. Bit/Group/Global Write Enable Faults

这些故障在write enable端口（bit、group、或global）上，在bit/byte write enable端口和global write enable端口之间是stuck-active和short（两种faults）。

检测Bit/Group/Global write Enables上的stuck active，首先向memory中写入一个数据值，使这些inputs设置为它们的active value，然后尝试写相反的数据值，使这些inputs设为它们的inactive value，然后验证第一次的数据值仍然存在（inputs？inactive？active？）。