本文详细介绍了Advanced BAP Memory Access的Direct Access Interface特性，包括BAP架构、系统逻辑交互和时序。该特性减少了测试时间，通过IJTAG协议配置，支持在ATE环境和in-system测试中对Memory BIST控制器的高效访问。直接访问接口允许低延迟配置和监控MemoryBIST控制器，同时提供了灵活的测试选项以适应不同的应用场景。
Advanced BAP在连接到BAP的memory BIST的hw_default操作模式下启用某些feature覆盖。通过消除顺序配置controllers的shift cycles，能够极大减少测试时间。
Advanced BAP memroy访问feature与memory BIST controller的交互部分可以通过IJTAG协议进行配置。在ATE环境的制造测试，和通过Tessent MissionMode controller的in-system测试时可能使用controller配置。在in-system test中使用MissionMode controller（？）是启用访问所有连接到IJTAG网络的instruments，包括memroy BIST controller的常见解决方案。当为MissionMode controller生成patterns时，支持PatternsSpecification的所有选项。
Advanced BAP memory access feature还可以通过连接到BAP的系统信号调用memory测试直接访问interface的能力，而不是通过IJTAG网络顺序shift测试配置数据和结果。直接访问端口支持low-latency协议以配置MemoryBIST controller，执行Go/NoGo测试，并监视pass/fail状态，但是不能得到详细的诊断等操作的一些模式。
BAP Direct Access Interface Feature Description
每个MBIST DftSpecification insertion pass会创建BAP module，为一个或多个Memory controllers提供服务。BAP direct access interface feature创建一些列端口，能够连接到系统逻辑上。<
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