Advanced BAP Memory Access

高级BAP在连接到BAP得memory BIST controllers的hw_default操作模式下使能一些feature overrides。通过消除串行配置控制器的移位周期极大地减少了测试时间，代价是在BAP和controllers之间增加了额外的连接。

advanced BAP memory access feature连接memory BIST控制器的部分是通过IJTAG协议可配置的，该控制器配置可用于ATE环境中的制造测试，也可通过Tessent MissionMode控制器进行in-system测试。使用MissionMode控制器进行in-system测试是一种通用的解决方案，可以访问连接到IJTAG网络的所有instruments，包括memory BISt控制器。当为MissionMode控制器生成patterns时，PatternsSpecification的所有options都被支持。

advanced BAP memory access feature也提供通过连接到BAP direct access interface的系统信号调用memory测试的能力。而不是通过IJTAG network顺序移位测试配置数据和结果。direct access interface支持low-latency协议来配置MemoeyBIST控制器，Go/NoGo测试，并监视pass/fail状态。但是一些操作模式例如detailed diagnosis不可得到。

BAP Direct Access Interface Feature Description

每个MBIST DftSpecification插入过程会创建BAP模块，为了一个或多个MemoryBIST控制器服务。

direct access interface支持low latency协议来配置MemoryBIST控制器，执行Go/NoGo测试并监视pass/fail状态。连接到BAP上的控制器可能在相同或不同时钟域下操作，取决于测试下memories的功能时钟源。该feature有两种不同的实现，当包含多个功能时钟时，提供gate count和latency之间的权衡，时序方面的考虑也略有不同。

BAP Architecture

advanced BAP memory access feature由两部分组成。BAP direct access interface在BAP左侧IJTAG network interface端口下方，这些连接时自定义可配置的，并连接到功能逻辑上。在右侧，从BAP到MemoryBIST控制器的连接完全是自动的，不可自定义配置。连接到MemoryBIST的信号可通过添加进ABP的IJTAG TDRs来编辑，或者，如果存在，通过BAP直接访问接口配置。
MemoryBIST控制器上的端口可以独立于BAP直接访问结构实现。advanced BAP使能某些feature覆写，例如算法，对于所有memories不使用顺序配置控制器。通过在hw_default模式下操作memory BIST控制器，通过消除设置memory测试的移位周期能够减少测试时间。

直接访问接口提供通过连接到BAP的系统信号以调用memory测试的能力。带有BAP内的sequencer使用low latency协议开始和终止memory测试。在该方法中，单个sequencer被使用来最小化BAP的门的数量，sequencer的时钟，sys_clock应该由相对低的频率，相比ijtag_tck，为了确保生成的控制信号以正确的顺序到达MBIST控制器。

直接访问接口为配置memory测试提供基础选项，可以应用在memories上的测试算法和操作集。可以基于in-system测试要求玄策哪一个控制器，step和memory运行。例如，如果分配的测试时间有限，可以灵活地选择具有少量指示的短的算法，或只在一个memory上执行memory BIST。

直接访问接口的输出指示全部pass/fail以及所有有效控制器的完成状态，每个控制器的执行时间通常是不同的，因此pass/fail和各个控制器的完成状态也可以被监视。