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RSS订阅原创 Memory BIST Getting Started
本章节描述如何使用Tessent Shell插入Tessent MemoryBIST。
2023-01-30 20:05:42
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原创 第五章：Test Point Analysis and Insertion
工具会查找test point的fan-in cone中所有的flop，选择fan-in cone中驱动最多scan flops的时钟作为test point的时钟，如果fan-in中没有scan flops，则选择fan-out cone中驱动最多scan flops的时钟作为test point的时钟。设计包含许多难以控制和观察的内部模式，即使是在全扫描插入的设计中也是如此，通过在这些位置添加被称为test points的特殊测试电路，可以增加设计的可测试性。）t故障的测试覆盖率。
2022-11-14 10:45:49
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原创 Tessent On-Chip Clock Controller
在现代化设计中，on-chip clock control（OCC）电路通常被用来在测试期间管理时钟，这样的时钟控制器在ATPG process的控制下可以生成slow-speed或者at-speed时钟序列。Tessent OCC时通过Tessent Shell创建一个时钟控制器的实现，被设计用来满足ATPG、Logic BIST、EDT和Low Pin Count Testde scan test。
2022-11-08 09:57:01
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原创 ATPG
更具体地说，工具给控制点分配一组值，使故障点与无故障状态具有相反的状态，所以，可以检测到故障值和无故障值之间的差异。例如，如果工具证明了故障冗余，可能会标记该故障为不可测，否则，将划分为潜在可检测故障，计算测试覆盖率时归类为不可测试故障。该程序从故障列表选择一个故障，创建检测故障的pattern，故障防战pattern，检查确保生成的pattern能检测到故障。ATPG的目的是创建一组patterns， 来达到给定的测试覆盖率，测试覆盖率是pattern集实际检测到的故障占可测试性故障的百分比。
2022-11-03 17:57:43
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原创 2.tessent命令学习笔记
2.set_dft_specification_requirements：指定DRC检查的要求，包括DFT规格；19.set_module_matching_options：定义将ICL模块与ICL提取中的设计模块匹配时要使用的可接受前缀和后缀或规律的表达式；7.create_pattern_specification：创建默认的模式规范，是一个配置文件，process_patterns_specification命令将根据模式规范来创建测试，可以编辑或配置默认的模式规范，以生成所需的模式规范。
2022-10-27 14:08:30
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原创 1.tessent命令学习笔记
reapply_setting_after_reelaboration {on|off}，当再次对当前设计使用set_current_design时，将重新阐述设计，当设置为“on”时，Tessent shell会保留某些设置，例如add_clocks、add_black_boxes等；-f，可选，tcl列表，指定指向要加载的design 文件的一个或多个ASCII文件的名称，调用的文件通常是由另一个工具生成，因此该选项以内需使用该文件，而不需要转换为read_vhdl命令所允许的格式。
2022-10-25 14:33:10
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