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tessent MBIST
文章平均质量分 85
学习记录
窗外的布谷鸟
这个作者很懒,什么都没留下…
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Advanced BAP Memory Access
高级BAP在连接到BAP得memory BIST controllers的hw_default操作模式下使能一些feature overrides。通过消除串行配置控制器的移位周期极大地减少了测试时间,代价是在BAP和controllers之间增加了额外的连接。原创 2023-07-24 14:56:42 · 211 阅读 · 0 评论 -
MemoryBIST
通常会要求设计特定的测试算法以定位特定memory defects,这些defects使用现有的算法难以检测到。为了有效测试memory,可以需要以特定的顺序在同一个memory上应用多个算法。一些情况下,可能会选择应用几个算法来诊断memory defects,否则难以识别这些defects。原创 2023-07-13 10:08:50 · 661 阅读 · 0 评论 -
Advanced BAP Memory Access
Advanced BAP在连接到BAP的memory BIST的hw_default操作模式下启用某些feature覆盖。通过消除顺序配置controllers的shift cycles,能够极大减少测试时间。Advanced BAP memroy访问feature与memory BIST controller的交互部分可以通过IJTAG协议进行配置。在ATE环境的制造测试,和通过Tessent MissionMode controller的in-system测试时可能使用controller配置。原创 2023-06-27 15:36:56 · 537 阅读 · 0 评论 -
Memory Fault Types
在data lines之间访问transistors,以及在bitlines上异常高的漏电流,会导致bitlines之间的差分电压,从而导致差分放大器错误的读取cell,最差的情况是,除了pivot cell以外,列上的所有cells都具有相同的值。为了检测破坏性读故障,在test下的cell必须被初始化,然后在连续的时钟周期内多次读取。检测Bit/Group Write Enable上的shorts,首先执行写操作,inputs根据bus的奇数和偶数索引设置为相反的值。原创 2023-06-19 17:59:18 · 341 阅读 · 0 评论 -
第四章:Creating and Verifying Test Patterns
test patterns原创 2023-03-10 09:41:57 · 364 阅读 · 0 评论 -
第八章:Tessent MemoryBIST Diagnosis
本掌描述了Tessent MemoryBIST支持的诊断方法,包括每个方法特性和使用指导的描述。原创 2023-02-27 15:28:12 · 901 阅读 · 0 评论 -
Parallel Static Retention Testing
PSRT原创 2023-02-10 10:29:40 · 906 阅读 · 0 评论 -
PatternSpecification
pattern specificatio原创 2023-02-09 19:28:49 · 326 阅读 · 0 评论 -
Tessent MemoryBIST Overview
Memory BIST原创 2023-01-29 16:41:41 · 472 阅读 · 0 评论 -
Memory BIST Getting Started
本章节描述如何使用Tessent Shell插入Tessent MemoryBIST。原创 2023-01-30 20:05:42 · 951 阅读 · 3 评论 -
第三章:Planning and Inserting MemoryBIST
DftSpecification的创建和修改原创 2023-02-01 11:24:21 · 579 阅读 · 0 评论 -
第九章:Common Implementation Flows
实现流程原创 2023-02-10 15:31:09 · 157 阅读 · 0 评论